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이 학술지의 논문 검색
LCD 부품 검사를 위한 백색광 주사 간섭계(White light Scanning Interferometry) autofocusing 장치 개발
이성훈(S. H. Lee), 고국원(K. W. Ko),고경철(K. C. Ko),조수용(S. Y. Cho) 한국정밀공학회 2006 p.3-4
LCD glass 위의 Pole 높이 측정을 위한 백색광 간섭계 개발
이두길(D.K. Lee), 조수용(S. Y. Cho),고국원(K. W. Ko) 한국정밀공학회 2006 p.7-8
저 배율 렌즈를 이용한 Wafer 검사용 백색광 주사간섭계의 대면적 광학계 구성과 알고리즘 연구
조수용(S. Y. Cho), 고국원(K. W. Koh),고경철(K. C. Koh),김민영(M. Y. Kim) 한국정밀공학회 2006 p.9-10
박준영(Joon-Young Park), 조병학(Byung-Hak Cho),변승현(Seung-Hyun Byun),이재경(Jae-Kyung Lee) 한국정밀공학회 2006 p.11-12
초전형 적외선 센서를 이용한 위치 인식 시스템의 센서 배치 평가
박희웅(H. W. Park), 하경남(K. N. Ha),이경창(G. C. Lee),이석(S. Lee) 한국정밀공학회 2006 p.13-14
강희신(H. S. Kang), 서정(J. Suh),이제훈(J. H. Lee),김정오(J. O. Kim) 한국정밀공학회 2006 p.15-16
추원식(W. S. Chu), 김성근(S. G. Kim),김형중(H. J. Kim),안성훈(S. H. Ahn) 한국정밀공학회 2006 p.21-22