RISS 학술연구정보서비스

검색
다국어 입력

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      KCI등재

      다중채널 초음파 프로브 고장진단을 위한 커패시턴스 측정 장치 구현 = Implementation of Capacitance Measurement Equipment for Fault Diagnosis of Multi-channel Ultrasonic Probe

      한글로보기

      https://www.riss.kr/link?id=A101811775

      • 0

        상세조회
      • 0

        다운로드
      서지정보 열기
      • 내보내기
      • 내책장담기
      • 공유하기
      • 오류접수

      부가정보

      국문 초록 (Abstract)

      본 논문에서는 기존의 LCR 미터에 의한 측정방식이 아니라 C/V(capacitance to voltage) 변환 방식을 이용하여 커패시턴스를 측정하는 방법을 제안하였다. 그리고 다중채널용 초음파 프로브 진단장...

      본 논문에서는 기존의 LCR 미터에 의한 측정방식이 아니라 C/V(capacitance to voltage) 변환 방식을 이용하여 커패시턴스를 측정하는 방법을 제안하였다. 그리고 다중채널용 초음파 프로브 진단장치를 구현하기 위해 192채널들을 6개의 MUX(multiplexer) 채널로 변환하는 아날로그 MUX 회로를 설계하였다. 각각의 MUX 채널 회로별 전압을 다시 커패시턴스로 변환하는 회로특성이 다르기 때문에 각각의 MUX 채널별 디지털전압을 커패시턴스로 변환하는 변환함수를 최소 자승법을 이용하여 유도하였다. 개발된 시제품의 성능시험결과로 1회 측정시간이 4초 이내로 측정되었고, 192개 채널들의 반복적인 측정에서 최대값, 최소값, 평균값에 대한 측정 오차값이 5% 이내의 시험결과가 제시되었다.

      더보기

      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      In this paper, we propose the method to measure the capacitances using not LCR meter but capacitance to voltage(C/V) conversion. And we design the analog MUX circuits that convert 192 channels to 6 MUX channels in order to implement the diagnosis of m...

      In this paper, we propose the method to measure the capacitances using not LCR meter but capacitance to voltage(C/V) conversion. And we design the analog MUX circuits that convert 192 channels to 6 MUX channels in order to implement the diagnosis of multi-channel ultrasonic probe. This paper derives the conversion function that converts the digital voltage of each MUX channel to the capacitance using the least squares method because the circuit characteristics that convert the voltage of each MUX channel to the capacitance are different. The developed prototype illustrates the performance test results that the measure times are measured by within 4sec and the measure error rates of maximum, minimum, and average values are within 5% in terms of the repeated measurements of all 192 channels.

      더보기

      참고문헌 (Reference)

      1 Xianming Xiong, "The design of film thickness measure system based on capacitance sensor" 334-336, 2010

      2 "TMS320x2833x Analog-to-Digital Converter (ADC) Module, SSPRU812A"

      3 "TMS320F28335 Floating-Point 32bit Micro-controller Data Manual, SPRS439M" Texas Instruments

      4 "Programming TMS320x28xx and 28xxx Peripherals in C/C++, SPRAA85D"

      5 정무경, "NLOS환경에서의 최소자승법을 적용한 위치인식 보정 알고리즘" 한국통신학회 37 (37): 309-316, 2012

      6 "Manufacturer Specifications: Converter IC for Capacitive Signals-CAV44"

      7 Greg Amorese, "LCR/Impedance Measurement Basics" HEWLETT PACKARD(HP) 1997

      8 "Hardware Design Guidelines for TMS320F28xx and TMS320F28xxx DSCs, SPRAAS1C"

      9 Wei-min Chen, "An application for measurement of waterin-oil percentage based on capacitance to voltage signal convert integrate circuit CAV424" 94-96, 2003

      1 Xianming Xiong, "The design of film thickness measure system based on capacitance sensor" 334-336, 2010

      2 "TMS320x2833x Analog-to-Digital Converter (ADC) Module, SSPRU812A"

      3 "TMS320F28335 Floating-Point 32bit Micro-controller Data Manual, SPRS439M" Texas Instruments

      4 "Programming TMS320x28xx and 28xxx Peripherals in C/C++, SPRAA85D"

      5 정무경, "NLOS환경에서의 최소자승법을 적용한 위치인식 보정 알고리즘" 한국통신학회 37 (37): 309-316, 2012

      6 "Manufacturer Specifications: Converter IC for Capacitive Signals-CAV44"

      7 Greg Amorese, "LCR/Impedance Measurement Basics" HEWLETT PACKARD(HP) 1997

      8 "Hardware Design Guidelines for TMS320F28xx and TMS320F28xxx DSCs, SPRAAS1C"

      9 Wei-min Chen, "An application for measurement of waterin-oil percentage based on capacitance to voltage signal convert integrate circuit CAV424" 94-96, 2003

      더보기

      동일학술지(권/호) 다른 논문

      동일학술지 더보기

      더보기

      분석정보

      View

      상세정보조회

      0

      Usage

      원문다운로드

      0

      대출신청

      0

      복사신청

      0

      EDDS신청

      0

      동일 주제 내 활용도 TOP

      더보기

      주제

      연도별 연구동향

      연도별 활용동향

      연관논문

      연구자 네트워크맵

      공동연구자 (7)

      유사연구자 (20) 활용도상위20명

      인용정보 인용지수 설명보기

      학술지 이력

      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2027 평가예정 재인증평가 신청대상 (재인증)
      2021-01-01 평가 등재학술지 유지 (재인증) KCI등재
      2018-01-01 평가 등재학술지 선정 (계속평가) KCI등재
      2017-12-01 평가 등재후보로 하락 (계속평가) KCI등재후보
      2013-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2011-11-23 학술지명변경 외국어명 : THE JOURNAL OF The KOREAN Institute Of Maritime information & Communication Science -> Journal of the Korea Institute Of Information and Communication Engineering KCI등재
      2011-11-16 학회명변경 영문명 : International Journal of Information and Communication Engineering(IJICE) -> The Korea Institute of Information and Communication Engineering KCI등재
      2011-11-14 학회명변경 한글명 : 한국해양정보통신학회 -> 한국정보통신학회
      영문명 : 미등록 -> International Journal of Information and Communication Engineering(IJICE)
      KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2002-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
      더보기

      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.23 0.23 0.27
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.24 0.22 0.424 0.11
      더보기

      이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

      나만을 위한 추천자료

      해외이동버튼