다양한 Intellectual Property(IP)로 이루어진 복잡한 SoC 테스트에 있어 테스트 비용 절감은 필수적이다. 본 논문에서는 IEEE Std. 1500과 IEEE Std. 1149.7 인터페이스를 사용하여 적은 수의 핀 수로 IP 기반...
http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=A99777917
2013
Korean
KCI등재
학술저널
60-67(8쪽)
0
0
상세조회0
다운로드국문 초록 (Abstract)
다양한 Intellectual Property(IP)로 이루어진 복잡한 SoC 테스트에 있어 테스트 비용 절감은 필수적이다. 본 논문에서는 IEEE Std. 1500과 IEEE Std. 1149.7 인터페이스를 사용하여 적은 수의 핀 수로 IP 기반...
다양한 Intellectual Property(IP)로 이루어진 복잡한 SoC 테스트에 있어 테스트 비용 절감은 필수적이다. 본 논문에서는 IEEE Std. 1500과 IEEE Std. 1149.7 인터페이스를 사용하여 적은 수의 핀 수로 IP 기반의 System-on-a-Chip(SoC) 테스트를 가능케 하는 테스트 구조를 제안한다. IEEE Std. 1500은 IP 기반의 SoC 테스트에 있어 각 IP를 테스트할 수 있는 독립된 접근 경로를 제공한다. 본 논문에서는 이러한 독립된 테스트 경로를 IEEE Std. 1149.7로 제어 가능하도록 구성함으로서 SoC의 테스트 핀 수를 2 핀으로 줄일 수 있게 한다. 본 기술은 Wafer 및 Package 수준 테스트에 요구되는 테스트 핀 수를 줄임으로서 동시에 테스트 가능한 대상회로의 수를 늘릴 수 있고, 결과적으로 전체적인 양산 테스트 비용을 크게 절감할 수 있게 한다.
다국어 초록 (Multilingual Abstract)
Test cost reduction is necessary to test a complex System-on-a-Chip(SoC) which adopts various Intellectual Properties (IP). In this paper, test architecture with low pin count which is able to IP-based SoC test, using IEEE Std. 1149.7 and IEEE Std. 15...
Test cost reduction is necessary to test a complex System-on-a-Chip(SoC) which adopts various Intellectual Properties (IP). In this paper, test architecture with low pin count which is able to IP-based SoC test, using IEEE Std. 1149.7 and IEEE Std. 1500, is proposed. IEEE Std. 1500 provides independent access mechanism for each IP in IP-based SoC test. In this paper, just two test pins are required by composing that these independent access mechanism can be controlled by IEEE Std. 1149.7. The number of Chips which are tested at the same time is increased by reducing required test pin count at wafer and package level test, and consequently the overall manufacturing test cost will be reduced significantly.
목차 (Table of Contents)
참고문헌 (Reference)
1 S. Hwang, "Test Data Compression and Test Time Reduction Using an Embedded Microprocessor" 11 : 853-862, 2003
2 H. Yi, "Low-Cost Scan Test for IEEE-1500-Based SoC" 57 : 1071-1078, 2008
3 "IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture"
4 이현빈, "IEEE 1500 래퍼를 이용한 효과적인 AMBA 기반 시스템-온-칩 코아 테스트" 대한전자공학회 45 (45): 61-68, 2008
5 Y. Zorian, "IEEE 1500 utilization in SoC design and test" 2005
6 H. Vranken, "Enhanced Reduced Pin-Count Test for Full-Scan Design" 738-747, 2001
7 Adam. W. L., "Doing More with Less - An IEEE 1149.7 Embedded Tutorial : Standard for Reduced-pin and Enhanced-functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" 1-10, 2009
8 J. Song, "Design of Test Access Mechanism for AMBA Based System-on-a-Chip" 375-380, 2007
9 H. Hashempour, "Analysis and Evaluation of Multisite Testing for VLSI" 54 : 1770-1778, 2005
10 J. Jahangiri, "Achieving High Test Quality with Reduced Pin Count Testing" 312-317, 2005
1 S. Hwang, "Test Data Compression and Test Time Reduction Using an Embedded Microprocessor" 11 : 853-862, 2003
2 H. Yi, "Low-Cost Scan Test for IEEE-1500-Based SoC" 57 : 1071-1078, 2008
3 "IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture"
4 이현빈, "IEEE 1500 래퍼를 이용한 효과적인 AMBA 기반 시스템-온-칩 코아 테스트" 대한전자공학회 45 (45): 61-68, 2008
5 Y. Zorian, "IEEE 1500 utilization in SoC design and test" 2005
6 H. Vranken, "Enhanced Reduced Pin-Count Test for Full-Scan Design" 738-747, 2001
7 Adam. W. L., "Doing More with Less - An IEEE 1149.7 Embedded Tutorial : Standard for Reduced-pin and Enhanced-functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture" 1-10, 2009
8 J. Song, "Design of Test Access Mechanism for AMBA Based System-on-a-Chip" 375-380, 2007
9 H. Hashempour, "Analysis and Evaluation of Multisite Testing for VLSI" 54 : 1770-1778, 2005
10 J. Jahangiri, "Achieving High Test Quality with Reduced Pin Count Testing" 312-317, 2005
11 송재훈, "AMBA 기반 SoC의 병렬 코어 테스트를 위한효과적인 테스트 설계 기술" 대한전자공학회 48 (48): 44-54, 2011
지능형 교통시스템을 위한 u-TSMVPN의 설계와 성능분석
무인항공기에 장착된 UHF 모노폴 안테나의 최적 위치 및 형상
이중 모드 ADC를 이용한 U-Health 시스템용 맥박수와 맥박파형 검출 회로 설계
학술지 이력
연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
---|---|---|---|
2023 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (등재유지) | |
2018-01-01 | 평가 | 우수등재학술지 선정 (계속평가) | |
2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2014-12-11 | 학술지명변경 | 외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea -> Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers | |
2014-01-21 | 학회명변경 | 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers | |
2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2009-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2005-10-17 | 학술지명변경 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지 -> 전자공학회논문지 | |
2005-05-27 | 학술지등록 | 한글명 : 대한전자공학회 논문지외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea | |
2005-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | |
2002-07-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | |
2000-01-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) |
학술지 인용정보
기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
---|---|---|---|
2016 | 0.27 | 0.27 | 0.25 |
KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
0.22 | 0.19 | 0.427 | 0.09 |