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이 학술지의 논문 검색
Test Bus Sizing for System-on-a-Chip
Iyengar, V.; Chakrabarty, K. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.449-459
Efficient Tests for Realistic Faults in Dual-Port SRAMS
Hamdioui, S.; van de Goor, A. J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.460-473
Minato, S.-i. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.474-485
A Method for Compressing Test Data Based on Burrows-Wheeler Transformation
Yamaguchi, T. J.; Ha, D. S.; Ishida, M.; Ohmi, T. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.486-497
A Design Diversity Metric and Analysis of Redundant Systems
Mitra, S.; Saxena, N. R.; McCluskey, E. J. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.498-510
A New Construction of Massey-Omura Parallel Multiplier over GF(2^m)
Reyhani-Masoleh, A.; Hasan, M. A. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.511-520
Montgomery Multiplier and Squarer for a Class of Finite Fields
Wu, H. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.521-529
Locally Subcube-Connected Hypercube Networks: Theoretical Analysis and Experimental Results
Chen, J.; Wang, G.; Chen, S. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.530-540
Examining Smart-Card Security under the Threat of Power Analysis Attacks
Messerges, T. S.; Dabbish, E. A.; Sloan, R. H. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.541-552
Fault-Tolerant Meshes with Small Degree
Zhang, L. IEEE INSTITUTE OF ELECTRICAL AND ELECTRONICS 2002 p.553-560
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
구글의 Page Rank 알고리즘의 영향을 받아 전체 인용 네트워크에서 노드에 점수를 매기는 방식으로, 명성이 높은 저널에서의 인용은 고득점으로 평가되어 같은 인용이라도 보다 높게 평가 됩니다. 또한 저널의 주제분야, 질과 명성이 모두 직접 영향을 미치는 평가 지료라고 할 수 있습니다.
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