CMOS VLSI의 효율적인 IDDQ 테스트 생성을 위한 패턴 생성기의 구현 = Implementation of Pattern Generator for Efficient IDDQ Test Generation in CMOS VLSI

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

IDDQ Testing is a very effective testing method to detect many kinds of physical defects occurred in CMOS VLSI circuits. In this paper, we consider the most commonly occurring bridging faults in current CMOS technologies and develop pattern generator for IDDQ testing using efficient IDDQ test algorithms. The complete set of bridging faults between every pair of all nodes(internal and external nodes) within circuit under test is assumed as target fault model. The merit of considering the complete bridging fault set is that layout information is not necessary. Implemented test pattern generator uses a new neighbor searching algorithm and fault collapsing schemes to achieve fast run time, high fault coverage, and compact test sets. Experimental results for ISCAS benchmark circuits demonstrate higher efficiency than those of previous methods.

국문 초록 (Abstract)

IDDQ 테스트는 CMOS VLSI 회로에서 발생 가능한 여러 종류의 물리적 결함을 효율적으로 검출 할 수 있는 테스트 방식이다. 본 논문에서는 CMOS에서 발생 빈도가 가장 높은 합선고장을 효과적으로 검출할 수 있는 IDDQ 테스트 알고리즘을 이용하여 패턴 생성기를 개발하였다. 고려한 합선고장 모델은 회로의 레이아웃 정보에 의존하지 않으며, 내부노드 혹은 외부노드에 한정시킨 합선고장이 아닌 테스트 대상회로의 모든 노드에서 발생 가능한 단락이다. 구현된 테스트 패턴 생성기는 O(n2)의 복잡도를 갖는 합선고장과 전압 테스트 방식에 비해 상대적으로 느린 IDDQ 테스트를 위해서 새롭게 제안한 이웃 조사 알고리즘과 고장 collapsing 알고리즘을 이용하여, 빠른 고장 시뮬레이션 시간과 높은 고장 검출율을 유지하면서 적은 수의 테스트 패턴 생성이 가능하다. ISCAS 벤치마크 회로의 모의실험을 통하여 기존의 다른 방식보다 우수한 성능을 보였다.