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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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Α Β Γ Δ Ε Ζ Η Θ Ι Κ Λ Μ Ν Ξ Ο Π Ρ Σ Τ Υ Φ Χ Ψ Ω α β γ δ ε ζ η θ ι κ λ μ ν ξ ο π ρ σ τ υ φ χ ψ ω
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      6MV 소형 x-선 beam 측정에 적합한 검출기의 조건에 관한 연구 = The study of detector condition proper to the measurement of 6MV small x-rays beam

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      https://www.riss.kr/link?id=A106713820

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      본 연구의 목적은 beam 지름이 12.5mm에서 40mm 까지의 소형 x-선에 대한 TMR, OAR, TSF를 전리함, 다이오드, 필름 및 TLD 등의 검출기로 측정하여 6MV 소형 x-선 beam 선량 측정에 적합한 검출기를 결정하였다. 가장 작은 beam인 지름 12.5mm beam의 TMR 값을 여러 가지 검출기로 측정한 결과 다이오드와 필름이 가장 우수하였으며 표준 TMR 값에 대한 오차 범위는 2% 이내였다. 그리고 이 다이오드와 필름은 OAR 측정 시공간 분해능이 뛰어났으며 이 두 검출기의 상대 비교에서 오차는 3% 이내였다. 이에 반해 전리함은 소형 beam의 TMR 및 OAR을 정밀하게 측정하는데 적합하지 않았다. beam 지름 12.5mm에서 40mm까지의 beam에 대한 TSF를 다이오드와 TLD로 측정한 결과 그 값은 $0.89{\sim}0.96$이었다. 그리고 beam 지름이 25mm 보다 크면 0.125cc 전리함 및 markus 전리함으로 측정한 TSF 값은 다이오드 및 TLD로 측정한 TSF 값과 잘 일치하였으며 그 오차 범위는 2% 이내였다.
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      본 연구의 목적은 beam 지름이 12.5mm에서 40mm 까지의 소형 x-선에 대한 TMR, OAR, TSF를 전리함, 다이오드, 필름 및 TLD 등의 검출기로 측정하여 6MV 소형 x-선 beam 선량 측정에 적합한 검출기를 결정하...

      본 연구의 목적은 beam 지름이 12.5mm에서 40mm 까지의 소형 x-선에 대한 TMR, OAR, TSF를 전리함, 다이오드, 필름 및 TLD 등의 검출기로 측정하여 6MV 소형 x-선 beam 선량 측정에 적합한 검출기를 결정하였다. 가장 작은 beam인 지름 12.5mm beam의 TMR 값을 여러 가지 검출기로 측정한 결과 다이오드와 필름이 가장 우수하였으며 표준 TMR 값에 대한 오차 범위는 2% 이내였다. 그리고 이 다이오드와 필름은 OAR 측정 시공간 분해능이 뛰어났으며 이 두 검출기의 상대 비교에서 오차는 3% 이내였다. 이에 반해 전리함은 소형 beam의 TMR 및 OAR을 정밀하게 측정하는데 적합하지 않았다. beam 지름 12.5mm에서 40mm까지의 beam에 대한 TSF를 다이오드와 TLD로 측정한 결과 그 값은 $0.89{\sim}0.96$이었다. 그리고 beam 지름이 25mm 보다 크면 0.125cc 전리함 및 markus 전리함으로 측정한 TSF 값은 다이오드 및 TLD로 측정한 TSF 값과 잘 일치하였으며 그 오차 범위는 2% 이내였다.

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