본 논문은 Fractional-N PLL에서 fractional spur를 억제하기 위한 최적의 DTC-Gain을 찾는 새로운 디지털 보정 기법을 제안한다. DTC를 사용하여 DSM 양자화 노이즈를 상쇄하는 것은 이미 알려진 기법이...
본 논문은 Fractional-N PLL에서 fractional spur를 억제하기 위한 최적의 DTC-Gain을 찾는 새로운 디지털 보정 기법을 제안한다. DTC를 사용하여 DSM 양자화 노이즈를 상쇄하는 것은 이미 알려진 기법이지만, DTC의 게인 값을 최적화하는 것은 여전히 중요한 과제로 남아있다. 이 문제를 해결하기 위해, 본 논문은 불완전한 노이즈 상쇄의 결과로 V_CTRL에서 발생하는 아날로그 리플에 주목한다. 제안하는 구조는 V_CTRL의 전압 리플을 12비트 고해상도 ADC를 사용하여 직접 샘플링하고, 이 값과 평균값의 차이를 오차 신호로 정의한다. 오차 신호는 LMS 알고리즘의 입력으로 사용되며, 이 알고리즘은 V_CTRL 리플을 최소화하도록 최적의 DTC-Gain을 자동으로 업데이트한다. 최종적으로 최적화된 DTC-Gain은 DTC가 DSM 양자화 노이즈를 정밀하게 상쇄할 수 있도록 한다. PFD 입력단에서 1비트의 시간 오차(부호)만을 감지하는 기존 방식과 달리, 이 기법은 V_CTRL에서 고해상도 전압 오차(크기와 부호)를 직접 감지함으로써 보정 정밀도를 크게 향상시킨다. 제안된 PLL은 100MHz 기준 주파수를 사용하는 40nm CMOS 공정에서 시뮬레이션되었다. 그 결과, 50MHz 오프셋에서의 fractional spur는 보정 미적용 시 -59.5dBc에서 보정 적용 시 -84.7dBc로 감소하였으며, 이는 약 25.2dB의 추가적인 스퍼 억제 성능을 보여준다.