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      FPD용 컬러 필터의 수지 얼룩 결함 형상화에 관한 연구

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      https://www.riss.kr/link?id=A60294449

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      Detecting defects on FPD (Flat Panel Display) color filter before the full panel is made is important to reduce the manufacturing cost. Among many types of defects, the low contrast blemish such as Suzi Mura is difficult to detect using standard CCD c...

      Detecting defects on FPD (Flat Panel Display) color filter before the full panel is made is important to reduce the manufacturing cost. Among many types of defects, the low contrast blemish such as Suzi Mura is difficult to detect using standard CCD cameras. Even skilled inspectors in the inspection line can hardly identify such defects using bare eyes. To overcome this difficulty, point spectrometer has been used to analyze the spectrum to differentiate such defects [rom normal color fillers. However, scanning ever increasing-size color filters by a point spectrometer takes too long time to be used in real production line. We propose a system using a spectral camera which can be viewed as a line scan camera composed of an array of point spectrometers. Three types of lighting system that exhibit different illumination spectrums are devised together with a calibration method of the proposed spectral camera system. To visualize the defect areas, various processing algorithms to identify and to enhance the small differences in spectrum between defective and normal areas are developed. Experiments shows 85% successful visualization of real samples using the proposed system.

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      목차 (Table of Contents)

      • Abstract
      • Ⅰ. 서론
      • Ⅱ. 시스템 개요
      • Ⅲ. 제안한 수지 얼룩 형상화 알고리즘
      • Ⅳ. 실험 결과 및 고찰
      • Abstract
      • Ⅰ. 서론
      • Ⅱ. 시스템 개요
      • Ⅲ. 제안한 수지 얼룩 형상화 알고리즘
      • Ⅳ. 실험 결과 및 고찰
      • Ⅴ. 결론
      • 참고문헌
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      참고문헌 (Reference)

      1 김진수, "머신 비전을 이용한 LCD 패널 마크 인식" 성균관대학교 대학원 2007

      2 서용원, "디스플레이용 컬러 필터 분야 특허 동향" (1228) : 2005

      3 고민석, "TFT-LCD 표면 검사를 위한 라인 스캔 영상의 재구성" 경북대학교 대학원 2006

      4 강희권, "TFT-LCD panel에서의 line-mura 검출 자동화 시스템 개발" 서울대학교 대학원 2005

      5 문경수, "Robust Regression을 이용한 TFT-LCD의 Mura 검출에 관한 연구" 아주대학교 대학원 2008

      6 강민철, "LCD 컬러 필터 단차 얼룩 결함 검사 시스템과 검출 방법" 호서대학교 대학원 2006

      7 조찬형, "LCD 광학 검사 장치 개발에 관한 연구" 금오공과대학교 산업대학원 2007

      8 박성재, "FPD 결함 검사를 위한 vision inspection system 설계에 관한 연구" 24 : 123-136, 2005

      1 김진수, "머신 비전을 이용한 LCD 패널 마크 인식" 성균관대학교 대학원 2007

      2 서용원, "디스플레이용 컬러 필터 분야 특허 동향" (1228) : 2005

      3 고민석, "TFT-LCD 표면 검사를 위한 라인 스캔 영상의 재구성" 경북대학교 대학원 2006

      4 강희권, "TFT-LCD panel에서의 line-mura 검출 자동화 시스템 개발" 서울대학교 대학원 2005

      5 문경수, "Robust Regression을 이용한 TFT-LCD의 Mura 검출에 관한 연구" 아주대학교 대학원 2008

      6 강민철, "LCD 컬러 필터 단차 얼룩 결함 검사 시스템과 검출 방법" 호서대학교 대학원 2006

      7 조찬형, "LCD 광학 검사 장치 개발에 관한 연구" 금오공과대학교 산업대학원 2007

      8 박성재, "FPD 결함 검사를 위한 vision inspection system 설계에 관한 연구" 24 : 123-136, 2005

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      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-12-29 학회명변경 한글명 : 제어ㆍ로봇ㆍ시스템학회 -> 제어·로봇·시스템학회 KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-02 학술지명변경 한글명 : 제어.자동화.시스템공학 논문지 -> 제어.로봇.시스템학회 논문지
      외국어명 : Journal of Control, Automation and Systems Engineering -> Journal of Institute of Control, Robotics and Systems
      KCI등재
      2007-10-29 학회명변경 한글명 : 제어ㆍ자동화ㆍ시스템공학회 -> 제어ㆍ로봇ㆍ시스템학회
      영문명 : The Institute Of Control, Automation, And Systems Engineers, Korea -> Institute of Control, Robotics and Systems
      KCI등재
      2007-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2002-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      1999-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.69 0.69 0.55
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.45 0.39 0.509 0.14
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