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    자동차 스마트 정션 박스 소형화를 위한 0.18㎛ BCDMOS 기반 스위치 회로 설계

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    참고문헌 (Reference)

    1 정민수, "차량 전원 안정성 향상을 위한 Diagnosis System 채택 Intelligent Smart Junction Box 개발" 대한전기학회 57 (57): 276-285, 2008

    2 연규봉, "자동차용 센서 시스템 IC 기술개발 동향및 고신뢰성 이슈" 40 (40): 18-27, 2013

    3 이승규, "자동차용 반도체 시장 동향 및 기술현황" 39 (39): 64-69, 2012

    4 NXP Semiconductors, "TJA1043: High Speed CAN Transceiver"

    5 S. Kim, "Study on testing the Smart Junction Box using the HIL System" Honam University 2012

    6 Freescale Semiconductor, "MC33972: Multiple Switch Detection Interface with Suppressed Wake-up"

    7 "ISO 7637-2 Road vehicles – Electrical disturbances from conduction and coupling -part2: Electrical transient conduction along supply lines only"

    8 Yano Research Institute, "Global In-Vehicle Semiconductor Market: Key Research Findings 2012.4.18"

    9 Infineon, "BTS5090-2EKA: Smart High-Side Power Switch with Dual Channel"

    10 "Autosplice Inc"

    1 정민수, "차량 전원 안정성 향상을 위한 Diagnosis System 채택 Intelligent Smart Junction Box 개발" 대한전기학회 57 (57): 276-285, 2008

    2 연규봉, "자동차용 센서 시스템 IC 기술개발 동향및 고신뢰성 이슈" 40 (40): 18-27, 2013

    3 이승규, "자동차용 반도체 시장 동향 및 기술현황" 39 (39): 64-69, 2012

    4 NXP Semiconductors, "TJA1043: High Speed CAN Transceiver"

    5 S. Kim, "Study on testing the Smart Junction Box using the HIL System" Honam University 2012

    6 Freescale Semiconductor, "MC33972: Multiple Switch Detection Interface with Suppressed Wake-up"

    7 "ISO 7637-2 Road vehicles – Electrical disturbances from conduction and coupling -part2: Electrical transient conduction along supply lines only"

    8 Yano Research Institute, "Global In-Vehicle Semiconductor Market: Key Research Findings 2012.4.18"

    9 Infineon, "BTS5090-2EKA: Smart High-Side Power Switch with Dual Channel"

    10 "Autosplice Inc"

    11 "AEC-Q100 Failure Mechanism based stress test qualification for integrated circuits"

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    2018-01-01 등재 우수등재학술지 선정 (계속평가)
    2015-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2014-12-11 학술지명변경 외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea -> Journal of the Institute of Electronics and Information Engineers KCI등재
    2014-01-21 학회명변경 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers KCI등재
    2011-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2009-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2007-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2005-10-17 학술지명변경 한글명 : 대한전자공학회 논문지 -> 전자공학회논문지 KCI등재
    2005-05-27 학술지등록 한글명 : 대한전자공학회 논문지
    외국어명 : journal of The Institute of Electronics Engineers of Korea
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    2005-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2002-07-01 등재 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
    2000-01-01 등재 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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    학술지 인용정보

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    기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
    2016 0.27 0.27 0.25
    KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
    0.22 0.19 0.427 0.09
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