Flash Memory Pattern Test를 위한 효율적인 알고리즘 연구

국문 초록 (Abstract)

스마트폰, 태블릿 PC, 울트라북등 휴대기기 사용의 증가로 인해 NAND-형 Flash Memory의 수요도 지속적으로 증가하고 있다. 그렇기 때문에 NAND-형 Flash Memory에서 발생할 수 있는 고장을 진단하기 위한 알고리즘 연 구가 매우 중요하다. Flash Memory는 셀 배열구조에 따라서 NOR-형 Flash Memory와 NAND-형 Flash Memory로 구분이 된다. NOR-형 Flash Memory는 다양한 테스트 알고리즘과 BIRA(Built-in Redundancy Analysis)알고리즘, 진단 알고리즘 등 다양한 알고리즘 연구가 진행되어 왔다. 그러나 NOR-형 Flash Memory에 서 연구되었던 이러한 알고리즘들을 이용하여 NAND-형 Flash Memory를 위한 고장을 확인하는 것이 매우 어렵 다. 따라서 본 논문에서는 NAND-형 Flash Memory에서 발생할 수 있는 고장 확인이 가능한 정확하고 효율적인 진단 알고리즘을 제안한다. 그래서 NAND-형 Flash Memory를 위한 고장 진단을 가능하게 한다.

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

The increasing usage of mobile devices such as SmartPhone, TabletPC, and Ultrabook, the demand for NAND-type Flash Memory is also constantly growing. Therefore, high speed and miniaturization able, NAND-type Flash Memory’s research for diagnosis of possible malfunction is very important. The Flash Memory is divided into NOR-type Flash Memory, and NAND-type Flash Memory. A lot of study such as Test Algorithm, BISR(Built-In Self Repair) Algorithm and Diagnostic Algorithm, etc. has been progressed in NOR-type Flash Memory. However, it is very difficult to detect for NAND-type Flash Memory’s fault, with the former studies of algorithms for NOR-type Flash Memory. In this paper, an efficient and accurate problem diagnosable algorithm that can identify, the type of possible failure of the cell in NAND-type Flash Memory, is proposed. So it allows error diagnosing for NAND-type Flash Memory.

목차 (Table of Contents)

• 요약
• Abstract
• 1. 서론
• 2. NAND 플래시 메모리 테스트 알고리즘
• 2.1 NAND 플래시 메모리 고장 유형
• 2.2 NAND 플래시 메모리 패턴
• 2.3 제안하는 PMBIST March 테스트 알고리즘
• 3. 제안하는 PMBIST
• 3.1 PMBIST 구조
• 3.2 알고리즘 생성기
• 3.3 Read/Write 신호 생성기
• 4. 실험 결과
• 5. Conclusions
• 참고문헌

참고문헌 (Reference)

1 박성규, "차세대 메모리를 활용한 연구 환경 개발" 한국차세대컴퓨팅학회 5 (5): 20-27, 2009

2 김영우, "상용 FPGA를 이용한 비동기식 회로의 프로토타이핑" 한국차세대컴퓨팅학회 4 (4): 24-33, 2008

3 이기용, "SBBF: A Space-Efficient Buffer Management Scheme for B+-Trees on NAND Flash Memory" 한국차세대컴퓨팅학회 7 (7): 4-19, 2011

4 V.G. Mikitjuk, "RAM Testing Algorithms for Detection Multiple Linked Faults" 435-439, 1996

5 Pavan P, "Flash memory cells an overview" 85 (85): 1248-1271, 1997

6 J. Yeh, C., "Flash Memory Built-In Self Test Using March-Like Algorithms" 137-141, 2002

7 Stefano DI CARLO, "Exploring Modeling and Testing of NAND Flash memories" 47-50, 2010

8 S. K. Chiu, "Diagonal Test and Diagnostic Schemes for Flash Memories" 37-46, 2002

9 Yu-Ying Hsiao, "Built-In Self-Repair Schemes for Flash Memories" 29 (29): 2010

10 S. Banerjee, "Automatic generated built-in-self test for embedded memory" 2004

11 Nur Qamarina Mohd Noor, "An Overview Of Microcode based and FSM based Programmable Memory Built-In Self Test (MBIST) Controller for Coupling Fault Detection" ISIEA 2009

12 Tei Wei Kuo, "An Efficient Fault Detection Algorithm for NAND Flash Memory" 11 (11): 8-16, 2011

13 K.D. Hong, "A Study on the Smart Virtual Machine for Executing Virtual Machine Codes on Smart Platforms" Oxford University Press 93-106, 2012