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      n-Si(111) 기판 위에 전기증착에 의한 Fe 박막의 성장과 구조적 특성 = Growth and Structural Properties of Fe Thin Films Electrodeposited on n-Si(111)

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      https://www.riss.kr/link?id=A100827365

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      국문 초록 (Abstract)

      펄스 전기증착법에 의해 단결정 Fe 박막을 n-Si(111) 기판위에 직접 성장시켰다. CV 분석 을 통해 $Fe^{2+}n-Si(111)$ 계면은 쇼트키 장벽 형성에 따른 다이오드 특성을 가진다는 사실을 알 수 있었다. 또한 인가 전압에 따른 전기용량의 변화를 보여주는 Mott-Schottky chottky(MS) 관계식을 이용하여 전해질 내에서 n-Si(111) 기판의 flat-band potential(EFB)을 조사하였으며, 0.1M $FeCl_2$ 전해질 내에서 EFB와 산화-환원 전위는 각각 -0.526V 과 -0.316V 임을 알 수 있었다. Fe/n-Si(111) 계면반응 시, Fe 증착 초기 단계에서의 핵 형성과 성장 운동학은 과도전류 특성을 이용하여 조사하였으며, 과도전류 특성을 통해 Fe 박막의 성장모드는 "instantaneous nucleation and 3-dimensional diffusion limited growth"임을 알 수 있었다. 주파수가 300Hz, 최대 전압이 1.4V인 펄스 전압을 이용하여 n-Si(111) 기판위에 Fe를 직접 전기 증착 시켰으며, 형 성 된 Fe 박막은 단결정 ${\alpha}-Fe$로 Si 기판위에 ${\alpha}-Fe(110)/Si(111)$의 격자 정합성을 가지고 성장하였음을 XRD 분석을 통해 확인하였다.
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      펄스 전기증착법에 의해 단결정 Fe 박막을 n-Si(111) 기판위에 직접 성장시켰다. CV 분석 을 통해 $Fe^{2+}n-Si(111)$ 계면은 쇼트키 장벽 형성에 따른 다이오드 특성을 가진다는 사실을 알 수 있었다....

      펄스 전기증착법에 의해 단결정 Fe 박막을 n-Si(111) 기판위에 직접 성장시켰다. CV 분석 을 통해 $Fe^{2+}n-Si(111)$ 계면은 쇼트키 장벽 형성에 따른 다이오드 특성을 가진다는 사실을 알 수 있었다. 또한 인가 전압에 따른 전기용량의 변화를 보여주는 Mott-Schottky chottky(MS) 관계식을 이용하여 전해질 내에서 n-Si(111) 기판의 flat-band potential(EFB)을 조사하였으며, 0.1M $FeCl_2$ 전해질 내에서 EFB와 산화-환원 전위는 각각 -0.526V 과 -0.316V 임을 알 수 있었다. Fe/n-Si(111) 계면반응 시, Fe 증착 초기 단계에서의 핵 형성과 성장 운동학은 과도전류 특성을 이용하여 조사하였으며, 과도전류 특성을 통해 Fe 박막의 성장모드는 "instantaneous nucleation and 3-dimensional diffusion limited growth"임을 알 수 있었다. 주파수가 300Hz, 최대 전압이 1.4V인 펄스 전압을 이용하여 n-Si(111) 기판위에 Fe를 직접 전기 증착 시켰으며, 형 성 된 Fe 박막은 단결정 ${\alpha}-Fe$로 Si 기판위에 ${\alpha}-Fe(110)/Si(111)$의 격자 정합성을 가지고 성장하였음을 XRD 분석을 통해 확인하였다.

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      Single crystal Fe thin films were grown directly onto n-Si(111) substrates by pulsed electrodeposition. Cyclic Voltammogram(CV) indicated that the $Fe^{2+}/n-Si(111)$ interface shows a good diode behavior by forming a Schottky barrier. From Mott-Schottky (MS) relation, it is found that the flat-band potential of n-Si(111) substrate and equilibrium redox potential of $Fet^{2+}$ ions are -0.526V and -0.316V, respectively. The nucleation and growth kinetics at the initial reaction stages of Fe/n-Si(111) substraste was studied by current transients. Current transients measurements have indicated that the deposition process starts via instantaneous nucleation and 3D diffusion limited growth. After the more deposition, the deposition flux of Fe ions was saturated with increase of deposition time. from the as-deposited sample obtained using the potential pulse of 1.4V and 300Hz, it is found that Fe nuclei grows to three dimensional(3D) islands with the average size of about 100nm in early deposition stages. As the deposition time increases, the sizes of Fe nuclei increases progressively and by a coalescence of the nuclei, a continuous Fe films grow on the Si surface. In this case, the Fe films show a highly oriented columnar structure and x-ray diffraction patterns reveal that the phase ${\alpha}-Fe$ grows on the n-Si(111) substrates.
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      Single crystal Fe thin films were grown directly onto n-Si(111) substrates by pulsed electrodeposition. Cyclic Voltammogram(CV) indicated that the $Fe^{2+}/n-Si(111)$ interface shows a good diode behavior by forming a Schottky barrier. From Mott-Schot...

      Single crystal Fe thin films were grown directly onto n-Si(111) substrates by pulsed electrodeposition. Cyclic Voltammogram(CV) indicated that the $Fe^{2+}/n-Si(111)$ interface shows a good diode behavior by forming a Schottky barrier. From Mott-Schottky (MS) relation, it is found that the flat-band potential of n-Si(111) substrate and equilibrium redox potential of $Fet^{2+}$ ions are -0.526V and -0.316V, respectively. The nucleation and growth kinetics at the initial reaction stages of Fe/n-Si(111) substraste was studied by current transients. Current transients measurements have indicated that the deposition process starts via instantaneous nucleation and 3D diffusion limited growth. After the more deposition, the deposition flux of Fe ions was saturated with increase of deposition time. from the as-deposited sample obtained using the potential pulse of 1.4V and 300Hz, it is found that Fe nuclei grows to three dimensional(3D) islands with the average size of about 100nm in early deposition stages. As the deposition time increases, the sizes of Fe nuclei increases progressively and by a coalescence of the nuclei, a continuous Fe films grow on the Si surface. In this case, the Fe films show a highly oriented columnar structure and x-ray diffraction patterns reveal that the phase ${\alpha}-Fe$ grows on the n-Si(111) substrates.

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      참고문헌 (Reference)

      1 "Theoretical and experimental studies of multiple nucleation" 1983

      2 "The Physics of Semiconductor Devices" 1981

      3 "The Growth and the Electrical Properties of Epitaxial CrSi2 Films Prepared on Si(111) Substrates" 33 (33): 1998

      4 "Structure and magnetic properties of electrodeposited Co films onto Si(100)" 166 (166): 2000

      5 "Structural and Optical Properties of Cd2GeSe4 Thin Films Grown by Thermal Evaporation" 44 (44): 2004

      6 "Semiconductor Electrochemistry" 2001

      7 "Rate Constants for Charge Transfer Across Semiconductor-Liquid Interfaces" 274 (274): 1996

      8 "Pulsed deposition of Fe-Ni-Co. alloys" 1994

      9 "Preferred Orientation and Morphology of Electrodeposited Iron From Iron" 1994

      10 "Optical and Electrical Properties of β-FeSi2 Single Crystals" 38 (38): 2001

      1 "Theoretical and experimental studies of multiple nucleation" 1983

      2 "The Physics of Semiconductor Devices" 1981

      3 "The Growth and the Electrical Properties of Epitaxial CrSi2 Films Prepared on Si(111) Substrates" 33 (33): 1998

      4 "Structure and magnetic properties of electrodeposited Co films onto Si(100)" 166 (166): 2000

      5 "Structural and Optical Properties of Cd2GeSe4 Thin Films Grown by Thermal Evaporation" 44 (44): 2004

      6 "Semiconductor Electrochemistry" 2001

      7 "Rate Constants for Charge Transfer Across Semiconductor-Liquid Interfaces" 274 (274): 1996

      8 "Pulsed deposition of Fe-Ni-Co. alloys" 1994

      9 "Preferred Orientation and Morphology of Electrodeposited Iron From Iron" 1994

      10 "Optical and Electrical Properties of β-FeSi2 Single Crystals" 38 (38): 2001

      11 "Metal deposition on n-Si(111) H electrodes" 45 : 2000

      12 "Large Magnetoresistance of Electrodeposited Single-Crystal Bismuth Thin Films" 284 (284): 1999

      13 "Iron silicides grown on Si(100) metastable and stable phases" 297 : 1997

      14 "Growth of epitaxial iron disilicide on Si" 1992

      15 "Giant magnetoresistance in multilayers electrodeposited on n-Si" 73 (73): 1998

      16 "Fe3Si Phase Formation at Fe/Si - 7×7 Interface at Room Temperature" 37 (37): 1998

      17 "Epitaxial magnetic Fe layers grown on Si(001) by means of a template method" 454 (454): 2000

      18 "Electrochim." 45 : 2000

      19 "Electrochemistry at Semiconductor and Oxidezed Metal Electrodes" Plenum 1980

      20 "Electrochemical nucleation and growth of gold on silicon (100) surfaces" 446 (446): 2000

      21 "Determination of the Fe/Si phase diagram by means of photoelectron spectroscopies" 1993

      22 "Bremsstrahlung-isochromat-spectroscopy and x-ray-photoelectron-spectroscopy investigation of the electronic structure of β-FeSi2 and the Fe/Si" 1990

      23 "Atomic structure of the reactive Fe/Si(111)- 7×7 interface" 1997

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      2021-01-01 평가 등재학술지 유지 (재인증) KCI등재
      2018-01-01 평가 등재학술지 선정 (계속평가) KCI등재
      2017-12-01 평가 등재후보로 하락 (계속평가) KCI등재후보
      2013-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2011-11-23 학술지명변경 외국어명 : THE JOURNAL OF The KOREAN Institute Of Maritime information & Communication Science -> Journal of the Korea Institute Of Information and Communication Engineering KCI등재
      2011-11-16 학회명변경 영문명 : International Journal of Information and Communication Engineering(IJICE) -> The Korea Institute of Information and Communication Engineering KCI등재
      2011-11-14 학회명변경 한글명 : 한국해양정보통신학회 -> 한국정보통신학회
      영문명 : 미등록 -> International Journal of Information and Communication Engineering(IJICE)
      KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2002-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.23 0.23 0.27
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.24 0.22 0.424 0.11
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