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    실험계획법을 이용한 Reel Tape Packaging 공정조건 분석 = Analysis of Reel Tape Packing process conditions using DOE

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    https://www.riss.kr/link?id=A106931947

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    다국어 초록 (Multilingual Abstract) kakao i 다국어 번역

    Today’s placement machines can pick and place thousands of components per hour with a very high degree of accuracy. The packaged semiconductor chips are inserted into a carrier at regular intervals, covered with a tape to protect the chips from external impact, and supplied in a roll form. These packaging processes also progress rapidly in a consistent direction, affecting the peelback strength between the cover tape and carrier depending on the main process conditions. In this paper, we analyzed the main process variables that affect peelback strength in the reel tape packaging process for packaging semiconductor chips. The main effects and interactions were analyzed. The peelback strength range required in the packaging process was set as the nominal the best characteristics, and the optimum process condition satisfying this was derived.
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    Today’s placement machines can pick and place thousands of components per hour with a very high degree of accuracy. The packaged semiconductor chips are inserted into a carrier at regular intervals, covered with a tape to protect the chips from exte...

    Today’s placement machines can pick and place thousands of components per hour with a very high degree of accuracy. The packaged semiconductor chips are inserted into a carrier at regular intervals, covered with a tape to protect the chips from external impact, and supplied in a roll form. These packaging processes also progress rapidly in a consistent direction, affecting the peelback strength between the cover tape and carrier depending on the main process conditions. In this paper, we analyzed the main process variables that affect peelback strength in the reel tape packaging process for packaging semiconductor chips. The main effects and interactions were analyzed. The peelback strength range required in the packaging process was set as the nominal the best characteristics, and the optimum process condition satisfying this was derived.

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    참고문헌 (Reference)

    1 최진화, "캠-슬라이더 매커니즘 테이프 피더의 성능평가에 관한 연구" 한국정밀공학회 23 (23): 177-183, 2006

    2 이수진, "칩마운터의 직진 테이프 피더 설계 및 평가" 한국정밀공학회 23 (23): 155-161, 2006

    3 조일형, "실험계획법중 Box-Behnken(박스-벤켄)법을 이용한 반응성 염료의 광촉매 산화조건 특성 해석 및 최적화" 대한환경공학회 28 (28): 917-925, 2006

    4 K. P. Ellis, "Optimizing the performance of a surface mount placement machine" 24 (24): 160-170, 2001

    5 전용원, "DC-link capacitor 필름 형상에 따른 Joule-heat 특성 분석" 한국반도체디스플레이기술학회 19 (19): 42-48, 2020

    6 K. Lyou, "A Study on the Inspection Algorithm of FIC Device in Chip Mounter" 4 (4): 384-391, 1998

    7 Song, J. S., "A Path Planning Algorithm for Dispenser Machines in Printed Circuit Board Assembly System" 6 (6): 506-513, 2000

    1 최진화, "캠-슬라이더 매커니즘 테이프 피더의 성능평가에 관한 연구" 한국정밀공학회 23 (23): 177-183, 2006

    2 이수진, "칩마운터의 직진 테이프 피더 설계 및 평가" 한국정밀공학회 23 (23): 155-161, 2006

    3 조일형, "실험계획법중 Box-Behnken(박스-벤켄)법을 이용한 반응성 염료의 광촉매 산화조건 특성 해석 및 최적화" 대한환경공학회 28 (28): 917-925, 2006

    4 K. P. Ellis, "Optimizing the performance of a surface mount placement machine" 24 (24): 160-170, 2001

    5 전용원, "DC-link capacitor 필름 형상에 따른 Joule-heat 특성 분석" 한국반도체디스플레이기술학회 19 (19): 42-48, 2020

    6 K. Lyou, "A Study on the Inspection Algorithm of FIC Device in Chip Mounter" 4 (4): 384-391, 1998

    7 Song, J. S., "A Path Planning Algorithm for Dispenser Machines in Printed Circuit Board Assembly System" 6 (6): 506-513, 2000

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    2019-01-01 등재 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
    2016-01-01 등재 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
    2012-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2010-03-25 학회명변경 한글명 : 한국반도체및디스플레이장비학회 -> 한국반도체디스플레이기술학회
    영문명 : The Korean Society of Semiconductor & Display Equipment Technology -> The Korean Society of Semiconductor & Display Technology
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    2010-03-25 학술지명변경 한글명 : 반도체및디스플레이장비학회지 -> 반도체디스플레이기술학회지
    외국어명 : Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology -> Journal of the Semiconductor & Display Technology
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    2009-01-01 등재 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
    2008-01-01 등재 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
    2006-01-01 등재 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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    학술지 인용정보

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    기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
    2016 0.29 0.29 0.26
    KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
    0.21 0.18 0.217 0.02
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