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이 학술지의 논문 검색
J.Y.Kim, S.K.Kim,백운규,T.Katoh,박재근 한국물리학회 2002 p.413-416
Effects of Co Precipitation on Si Diffusion in Ag(Co)/Si During Postannealing
S.J.Hong, H.J.Yang,J.Y.Kim,H.J.Shin,J.H.Lee,Y.K.Ko,J.G.Lee,B.J.Kang,B.S.Cho,C.O.Jeong,K.H.Chung,C.M.Lee 한국물리학회 2002 p.417-421
Integration of a Low-k α-SiOC:H Dielectric with Cu Interconnects
Jeong-HoonAhn, Kyung-TaeLee,Byung-JunOh,Yong-JunLee,Seong-HoLiu,Mu-KyeungJung,Young-WugKim,Kwang-PyukSuh 한국물리학회 2002 p.422-426
Mo/Si Multilayer for EUV Lithography Applications
SeungYoonLee, HyungJoonKim,JinhoAhn,InYongKang,정용재 한국물리학회 2002 p.427-432
Modeling a Via Profile Etched in a CHF3/CF4 Plasma Using a Neural Network
ByungwhanKim, 권광호,Sung-KuKwon,Jong-MoonPark,Seong-WookYoo,Kun-SikPark,In-KyuYou,Bo-WooKim 한국물리학회 2002 p.433-438
Etching Characteristics of SrBi2Ta2O9 Thin Films in a Cl2/CF4/Ar Plasma
Dong-PyoKim, Chang-IlKim 한국물리학회 2002 p.439-444
Reduction of Dry Etching Damage to PZT Films Etched with a Cl-Based Plasma and the Recovery Behavior
강명구 한국물리학회 2002 p.445-450
Simulation of the Optical Anomaly in a Mo/Si Multilayer System for an EUV Reflector
InYongKang, YoungTaeLee,정용재,HyeongJoonKim,SungMinHur,SeungYoonLee,JinhoAhn,윤종승,ChangKyungKim 한국물리학회 2002 p.451-455
Bulk Image Formation of Scalar Modeling in a Photoresist
Sang-KonKim, 오혜근 한국물리학회 2002 p.456-460
SangkyunIm, HwansooChoi,SoowonKim 한국물리학회 2002 p.461-467
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
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