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X-ray photoelectron spectroscopy investigations of the chemistries of soils
Barr, T. L.; Hoppe, E. E.; Hardcastle, S.; Seal, S. American Vacuum Society 1998 p.1079-1085
Characterization of silicon oxynitride thin films by x-ray photoelectron spectroscopy
Shallenberger, J. R.; Cole, D. A.; Novak, S. W. American Vacuum Society 1998 p.1086-1090
Rotole, J. A.; Sherwood, P. M. A. American Vacuum Society 1998 p.1091-1096
Interface matching in oxides of rocksalt/rocksalt(001) and rocksalt/perovskite(001)
Chern, G.; Cheng, C. American Vacuum Society 1998 p.1097-1102
Optical and structural characterization of copper-based colloidal particles in SiO~2 coatings
Mendoza-Galvan, A.; Perez-Robles, J. F.; Espinoza-Beltran, F. J.; Ramirez-Bon, R. American Vacuum Society 1998 p.1103-1108
Seal, S.; Nardelli, R.; Kale, A.; Desai, V. American Vacuum Society 1998 p.1109-1115
McIntyre, N. S.; Do, T.; Piao, H.; Splinter, S. J. American Vacuum Society 1998 p.1116-1121
Consistency of calculated and measured electron inelastic mean free paths
Powell, C. J.; Jablonski, A. American Vacuum Society 1998 p.1122-1126
Quantitative high-resolution imaging with sputter-initiated resonance ionization spectroscopy
Willey, K. F.; Arlinghaus, H. F.; Whitaker, T. J. American Vacuum Society 1998 p.1127-1129
Secondary ion mass spectrometry of deep trench capacitors in dynamic random access memory
Parks, C. C.; Glawischnig, H.; Levy, M.; Stengl, R. American Vacuum Society 1998 p.1130-1134
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