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      KCI등재

      FTIR 분광용 간섭계의 샘플링 잡음 영향 분석 = Analysis of sampling noise effect of Interferometer on FTIR Spectrometer

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      https://www.riss.kr/link?id=A104285791

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

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      FTIR(Fourier Transform Infrared) spectrometry is a useful method to obtain infrared spectra of materials in gas phase by registering the interferogram of a target material using an interferometer, and then performing a Fourier transform on the interferogram to obtain the spectrum. In this paper, sampling noise effect on signal processing of the rapid scan interferometer was studied with relation to sampling the interferogram points at the improper location and empirically verified.
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      FTIR(Fourier Transform Infrared) spectrometry is a useful method to obtain infrared spectra of materials in gas phase by registering the interferogram of a target material using an interferometer, and then performing a Fourier transform on the interfe...

      FTIR(Fourier Transform Infrared) spectrometry is a useful method to obtain infrared spectra of materials in gas phase by registering the interferogram of a target material using an interferometer, and then performing a Fourier transform on the interferogram to obtain the spectrum. In this paper, sampling noise effect on signal processing of the rapid scan interferometer was studied with relation to sampling the interferogram points at the improper location and empirically verified.

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      FTIR 분광계는 간섭계를 사용하여 표적 물질에 대한 간섭무늬를 획득하고, 이를 푸리에 변환함으로써 기체상태 물질의 적외선 영역 스펙트럼을 획득하기 위한 유용한 기법이다. 본 논문에서는 불규칙적 위치에서 간섭무늬 샘플링에 관하여 고속 스캔 간섭계의 신호처리에서의 샘플링 노이즈 영향에 대한 연구와 이에 대하여 실험적으로 검증 하였다.
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      FTIR 분광계는 간섭계를 사용하여 표적 물질에 대한 간섭무늬를 획득하고, 이를 푸리에 변환함으로써 기체상태 물질의 적외선 영역 스펙트럼을 획득하기 위한 유용한 기법이다. 본 논문에서...

      FTIR 분광계는 간섭계를 사용하여 표적 물질에 대한 간섭무늬를 획득하고, 이를 푸리에 변환함으로써 기체상태 물질의 적외선 영역 스펙트럼을 획득하기 위한 유용한 기법이다. 본 논문에서는 불규칙적 위치에서 간섭무늬 샘플링에 관하여 고속 스캔 간섭계의 신호처리에서의 샘플링 노이즈 영향에 대한 연구와 이에 대하여 실험적으로 검증 하였다.

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      1 "Application to chemical systems"

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      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2014-01-21 학회명변경 영문명 : The Institute Of Electronics Engineers Of Korea -> The Institute of Electronics and Information Engineers
      2012-09-01 평가 학술지 통합(등재유지)
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지(등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지(등재유지) KCI등재
      2007-10-04 학술지명변경 한글명 : 전자공학회논문지 - SD</br>외국어명 : SemiconductorandDevices KCI등재
      2007-01-01 평가 등재학술지 유지(등재유지) KCI등재
      2005-01-01 평가 등재학술지 유지(등재유지) KCI등재
      2002-07-01 평가 등재학술지 선정(등재후보2차) KCI등재
      2000-01-01 평가 등재후보학술지 선정(신규평가) KCI등재후보
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