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    Dry Film Photoresist를 이용한 테프론 PCB 위 미세 피치 솔더 범프 형성 = Formation of Fine Pitch Solder Bumps on Polytetrafluoroethylene Printed Circuit Board using Dry Film Photoresist

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    We have demonstrated the applicability of dry film photoresist (DFR) in photolithography process for fine pitch solder bumping on the polytetrafluoroethylene (PTFE/Teflon ) printed circuit board (PCB). The copper lines were formed with 100$\mu\textrm{m}$ width and 18$\mu\textrm{m}$ thickness on the PTFE test board, and varying the gaps between two copper lines in a range of 100-200$\mu\textrm{m}$. The DFRs of 15$\mu\textrm{m}$ thickness were laminated by hot roll laminator, by varying laminating temperature from $100{\circ}C$ to 15$0^{\circ}C$ and laminating speed from 0.28-0.98cm/s. We have found the optimum process of DFR lamination on PTFE PCB and accomplished the formation of indium solder bumps. The optimum lamination condition was temperature of $150^{\circ}C$ and speed of about 0.63cm/s. And the smallest size of indium solder bump was diameter of 50$\mu\textrm{m}$ with pitch of 100$\mu\textrm{m}$.
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    We have demonstrated the applicability of dry film photoresist (DFR) in photolithography process for fine pitch solder bumping on the polytetrafluoroethylene (PTFE/Teflon ) printed circuit board (PCB). The copper lines were formed with 100$\mu\textrm{...

    We have demonstrated the applicability of dry film photoresist (DFR) in photolithography process for fine pitch solder bumping on the polytetrafluoroethylene (PTFE/Teflon ) printed circuit board (PCB). The copper lines were formed with 100$\mu\textrm{m}$ width and 18$\mu\textrm{m}$ thickness on the PTFE test board, and varying the gaps between two copper lines in a range of 100-200$\mu\textrm{m}$. The DFRs of 15$\mu\textrm{m}$ thickness were laminated by hot roll laminator, by varying laminating temperature from $100{\circ}C$ to 15$0^{\circ}C$ and laminating speed from 0.28-0.98cm/s. We have found the optimum process of DFR lamination on PTFE PCB and accomplished the formation of indium solder bumps. The optimum lamination condition was temperature of $150^{\circ}C$ and speed of about 0.63cm/s. And the smallest size of indium solder bump was diameter of 50$\mu\textrm{m}$ with pitch of 100$\mu\textrm{m}$.

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    참고문헌 (Reference)

    1 "전자 패키지 기술" 16 (16): 3-13, 2003

    2 "Sensors and Actuators A" 53 : 364-368, 1996

    3 "IEEE Transactions on Advanced Packaging" 22 (22): 153-159, 1999

    4 "Dry Film Photoresist Processing Technology" Electrochemical Publications Ltd 127-, 2001

    1 "전자 패키지 기술" 16 (16): 3-13, 2003

    2 "Sensors and Actuators A" 53 : 364-368, 1996

    3 "IEEE Transactions on Advanced Packaging" 22 (22): 153-159, 1999

    4 "Dry Film Photoresist Processing Technology" Electrochemical Publications Ltd 127-, 2001

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    2018-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2015-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2011-06-28 학술지명변경 한글명 : 마이크전자 및 패키징학회지 -> 마이크로전자 및 패키징학회지
    외국어명 : The Microelectronics and Packaging Society -> Jornal of the Microelectronics and Packaging Society
    KCI등재
    2011-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2009-01-01 등재 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
    2007-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2004-01-01 등재 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
    2003-01-01 등재 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
    2001-07-01 등재 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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    학술지 인용정보

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    기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
    2016 0.48 0.48 0.43
    KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
    0.39 0.35 0.299 0.35
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