1 C. F. Majkrzak, 96 : 81-, 1999
2 H. Schmidt, 11 : 446-, 2009
3 S. K. Sinha, 38 : 2297-, 1988
4 B. J. Kirby, 76 : 205316-, 2007
5 G. P. Felcher, 200 : 741-, 1999
6 G. P. Felcher, 267-268 : 154-, 1999
7 W. A. Hamilton, 2 : 1-, 1994
8 G. Fragneto, 126 : 11-, 2011
9 C. F. Majkrzak, 21 : 46-, 2010
10 M. R. Fitzsimmons, Paul Scherrer Institut 1995
1 C. F. Majkrzak, 96 : 81-, 1999
2 H. Schmidt, 11 : 446-, 2009
3 S. K. Sinha, 38 : 2297-, 1988
4 B. J. Kirby, 76 : 205316-, 2007
5 G. P. Felcher, 200 : 741-, 1999
6 G. P. Felcher, 267-268 : 154-, 1999
7 W. A. Hamilton, 2 : 1-, 1994
8 G. Fragneto, 126 : 11-, 2011
9 C. F. Majkrzak, 21 : 46-, 2010
10 M. R. Fitzsimmons, Paul Scherrer Institut 1995
11 M. Dubey, 126 : 110-, 2011
12 R. A. Campbell, 126 : 107-, 2011
13 M. James, 14 : 91-, 2006
14 H. Ambaye, 19 : 11-, 2008
15 F. Ott, 167 : 93-, 2011
16 C. F. Majkrzak, 12 : 25-, 2001
17 G. Fragneto-Cusani, 13 : 4073-, 2001
18 T. P. Russel, 5 : 171-, 1990
19 M. R. Fitzsimmons, 271 : 103-, 2004
20 이정수, "하나로 수직형 중성자 반사율 측정장치의 계측시스템 특성 평가" 한국물리학회 62 (62): 1322-1333, 2012
21 이정수, "중성자 반사율 측정법에 따른 장치 분해능 영향 평가" 한국물리학회 63 (63): 783-793, 2013
22 "Reflectivity Resources"
23 Glenn F. Knoll, "Radiation Detection and Measurement" John Wiley & Sons 1979
24 B. Hammouda, "Proving Nanoscale Structures - The SANS Toolbox" National Institute of Science and Technology (NIST) 2011