RISS 학술연구정보서비스

검색
자동완성 버튼
다국어입력
다국어 입력
あ ぁ か が さ ざ た だ な は ば ぱ ま や ゃ ら わ ゎ ん い ぃ き ぎ し じ ち ぢ に ひ び ぴ み り う ぅ く ぐ す ず つ づ っ ぬ ふ ぶ ぷ む ゆ ゅ る え ぇ け げ せ ぜ て で ね へ べ ぺ め れ お ぉ こ ご そ ぞ と ど の ほ ぼ ぽ も よ ょ ろ を
ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.

변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.

예시)
  • 中文 을 입력하시려면 zhongwen을 입력하시고 space를누르시면됩니다.
  • 北京 을 입력하시려면 beijing을 입력하시고 space를 누르시면 됩니다.
ㅥ ㅦ ㅧ ㅨ ㅩ ㅪ ㅫ ㅬ ㅭ ㅮ ㅯ ㅰ ㅱ ㅲ ㅳ ㅴ ㅵ ㅶ ㅷ ㅸ ㅹ ㅺ ㅻ ㅼ ㅽ ㅾ ㅿ ㆀ ㆁ ㆂ ㆃ ㆄ ㆅ ㆆ ㆇ ㆈ ㆉ ㆊ ㆋ ㆌ ㆍ ㆎ
Α Β Γ Δ Ε Ζ Η Θ Ι Κ Λ Μ Ν Ξ Ο Π Ρ Σ Τ Υ Φ Χ Ψ Ω α β γ δ ε ζ η θ ι κ λ μ ν ξ ο π ρ σ τ υ φ χ ψ ω
á à Á À é è É È ç Ç ê
Ä Ö Ü ä ö ü ß
ְ ֳ ֲ ֱ ָ ַ ֵ ֶ ִ ֹ ּ ֻ ׂ ׁ ּ פ ם ן ו ט א ר ק ף ך ל ח י ע כ ג ד ש ץ ת צ מ נ ה ב
‘ ’ “ ” 〔 〕 〈 〉 「 」 『 』 【 】 ＂ （ ） ［ ］ ｛ ｝
± × ÷ ≠ ≤ ≥ ∞ ∴ ♂ ♀ ∠ ⊥ ⌒ ∂ ∇ ≡ ≒ ≪ ≫ √ ∽ ∝ ∵ ∫ ∬ ∈ ∋ ⊆ ⊇ ⊂ ⊃ ∪ ∩ ∧ ∨ ￢ ⇒ ⇔ ∀ ∃ ∮ ∑ ∏ ＋ － ＜ ＝ ＞
、 。 · ‥ … ¨ 〃 ― ∥ ＼ ∼ ´ ～ ˇ ˘ ˝ ˚ ˙ ¸ ˛ ¡ ¿ ː ！ ＇ ， ． ／ ： ； ？ ＾ ＿ ｀ ｜
½ ⅓ ⅔ ¼ ¾ ⅛ ⅜ ⅝ ⅞ ¹ ² ³ ⁴ ⁿ ₁ ₂ ₃ ₄
Æ Ð Ħ IJ Ł Ø Œ Þ Ŧ Ŋ æ đ ð ħ ı ij ĸ ŀ ł ø œ ß þ ŧ ŋ ʼn
А Б В Г Д Е Ё Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я а б в г д е ё ж з и й к л м н о п р с т у ф х ц ч ш щ ъ ы ь э ю я
′ ″ ℃ Å ￠ ￡ ￥ ¤ ℉ ‰ ＄ ％ Ｆ ￦ ㎕ ㎖ ㎗ ℓ ㎘ ㏄ ㎣ ㎤ ㎥ ㎦ ㎙ ㎚ ㎛ ㎜ ㎝ ㎞ ㎟ ㎠ ㎡ ㎢ ㏊ ㎍ ㎎ ㎏ ㏏ ㎈ ㎉ ㏈ ㎧ ㎨ ㎰ ㎱ ㎲ ㎳ ㎴ ㎵ ㎶ ㎷ ㎸ ㎹ ㎀ ㎁ ㎂ ㎃ ㎄ ㎺ ㎻ ㎽ ㎾ ㎿ ㎐ ㎑ ㎒ ㎓ ㎔ Ω ㏀ ㏁ ㎊ ㎋ ㎌ ㏖ ㏅ ㎭ ㎮ ㎯ ㏛ ㎩ ㎪ ㎫ ㎬ ㏝ ㏐ ㏓ ㏃ ㏉ ㏜ ㏆
§ ※ ☆ ★ ○ ● ◎ ◇ ◆ □ ■ △ ▽ → ← ↑ ↓ ↔ 〓 ◁ ◀ ▷ ▶ ♤ ♠ ♡ ♥ ♧ ♣ ⊙ ◈ ▣ ◐ ◑ ▒ ▤ ▥ ▨ ▧ ▦ ▩ ♨ ☏ ☎ ☜ ☞ † ‡ ↕ ↗ ↙ ↖ ↘ ♭ ♩ ♪ ♬ ㉿ ㈜ № ㏇ ™ ㏂ ㏘ ℡ ＃ ＆ ＊ ＠ ª º
ⅰ ⅱ ⅲ ⅳ ⅴ ⅵ ⅶ ⅷ ⅸ ⅹ Ⅰ Ⅱ Ⅲ Ⅳ Ⅴ Ⅵ Ⅶ Ⅷ Ⅸ Ⅹ
ا ب ت ث ج ح خ د ذ ر ز س ش ص ض ط ظ ع غ ف ق ک ل م ن ه و ی
닫기
    인기검색어 순위 펼치기

    RISS 인기검색어

      SCOPUS KCI등재

      초소형 고밀도 정보저장장치를 위한 고종횡비의 팁을 갖는 정전 구동형 폴리 실리콘 프로브 어레이 개발

      한글로보기

      https://www.riss.kr/link?id=A76290217

      • 0

        상세조회

      • 0

        다운로드
      서지정보 열기
      • 내보내기
      • 내책장담기
      • 공유하기
      • 오류접수

      부가정보

      목차 (Table of Contents)

      • ABSTRACT
      • 1. 서론
      • 2. EFM 기술을 이용한 정보 저장기기
      • 3. 폴리 실리콘 정전 프로브의 설계 및 제작
      • 4. 폴리 실리콘 정전 프로브의 구동 특성
      • ABSTRACT
      • 1. 서론
      • 2. EFM 기술을 이용한 정보 저장기기
      • 3. 폴리 실리콘 정전 프로브의 설계 및 제작
      • 4. 폴리 실리콘 정전 프로브의 구동 특성
      • 5. 결론
      • 후기
      • 참고문헌
      더보기

      참고문헌 (Reference)

      1 _, "한국정밀공학회지" 2006

      2 _, "접수일: 2006년1월31일; 게재승인일: 2006년 4월 26일" 2006

      3 Binnig, G, "Ultrahigh-Density Atomic Force Microscopy Data Storage with Erase Capability" 74 : 1329-1331, 1999

      4 Vettiger, P, "Ultrahigh Density, High-Data-Rate NEMS-Based AFM Data Storage System" 46 : 11-17, 1999

      5 K, "Switching and Memory Phenomena in Langmuir-Blodgett Films with Scanning Tunneling Microscope" ya 61 : 3032-3034, 1992.

      6 Hong, S, "Principle of Ferroelectric Domain Imaging using Atomic Force Microscope" 89 : 1377-1386, 2001

      7 Itoh,T, "Noncontact Scanning Force Microscopy using a Direct-Oscillating Piezoelectric Microcantilever" 14 (14): 1577-1581, 1996

      8 Imura,R, "Nanoscale Modification of Phase Change Materials with Near-Field Light" 30 : 387-390, 1996

      9 Sato,A, "Nanometre-Scale Recording and Erasing with the Scanning Tunneling Microscope" 363 : 431-432, 1993.

      10 _, "Journal of the Korean Society of Precision Engineering" 23 : -6, 2006

      1 _, "한국정밀공학회지" 2006

      2 _, "접수일: 2006년1월31일; 게재승인일: 2006년 4월 26일" 2006

      3 Binnig, G, "Ultrahigh-Density Atomic Force Microscopy Data Storage with Erase Capability" 74 : 1329-1331, 1999

      4 Vettiger, P, "Ultrahigh Density, High-Data-Rate NEMS-Based AFM Data Storage System" 46 : 11-17, 1999

      5 K, "Switching and Memory Phenomena in Langmuir-Blodgett Films with Scanning Tunneling Microscope" ya 61 : 3032-3034, 1992.

      6 Hong, S, "Principle of Ferroelectric Domain Imaging using Atomic Force Microscope" 89 : 1377-1386, 2001

      7 Itoh,T, "Noncontact Scanning Force Microscopy using a Direct-Oscillating Piezoelectric Microcantilever" 14 (14): 1577-1581, 1996

      8 Imura,R, "Nanoscale Modification of Phase Change Materials with Near-Field Light" 30 : 387-390, 1996

      9 Sato,A, "Nanometre-Scale Recording and Erasing with the Scanning Tunneling Microscope" 363 : 431-432, 1993.

      10 _, "Journal of the Korean Society of Precision Engineering" 23 : -6, 2006

      11 Marcus, "Formation of Silicon Tips with" 236-238, 1990.

      12 Shin, H, "Formation and Observation of Ferroelectric Domains in PbZr1-xTixO3 Proc. 6th SPIE’s Ann. Int. Symp. on Smart Structures and Materials" 3675 : 94-102, 1999

      13 Hidaka, T, "Formation and Observation of 50 nm Polarized Domains in PbZr1-xTixO3 Thin Film using Scanning Probe Microscope" 68 : 2358-2359, 1996

      14 Lee, K, "Detection Mechanism of Spontaneous Polarization in Ferroelectric Thin Films using Electrostatic Force Microscopy" 38 : 264-266, 1999

      15 Ma,L. P, "Data Storage with 0.7nm Recording Marks on Crystalline Organic Thin Film by a Scanning Tunneling Microscope" 73 (73): 850-852, 1998

      16 Barrett,R. C, "Charge Storage in a Nitride-Oxide-Silicon Medium by Scanning Capacitance Microscopy" 70 (70): 2725-2733, 1991.

      17 Minne, S. C, "Automated Parallel High-Speed Atomic Force Microscopy" 72 : 2340-2342, 1998

      더보기

      동일학술지(권/호) 다른 논문

      동일학술지 더보기

      더보기

      분석정보

      View

      상세정보조회

      0

      Usage

      원문다운로드

      0

      대출신청

      0

      복사신청

      0

      EDDS신청

      0

      동일 주제 내 활용도 TOP

      더보기

      주제

      연도별 연구동향

      연도별 활용동향

      연관논문

      연구자 네트워크맵

      공동연구자 (7)

      유사연구자 (20) 활용도상위20명

      인용정보 인용지수 설명보기

      학술지 이력

      학술지 이력
      연월일 이력구분 이력상세 등재구분
      2023 평가예정 해외DB학술지평가 신청대상 (해외등재 학술지 평가)
      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2013-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-06-23 학회명변경 영문명 : Korean Society Of Precision Engineering -> Korean Society for Precision Engineering KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2006-07-07 학술지명변경 외국어명 : 미등록 -> Journal of the Korean Society for Precision Engineering KCI등재
      2006-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2001-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      1998-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
      더보기

      학술지 인용정보

      학술지 인용정보
      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.26 0.26 0.26
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.24 0.22 0.449 0.12
      더보기

      이 자료와 함께 이용한 RISS 자료

      나만을 위한 추천자료

      해외이동버튼