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Modeling and simulation challenges in microwave engineering
Sevgi, L. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.393-393
Fifty years of high frequency diffraction
Balanis, C. A.; Sevgi, L.; Ufimtsev, P. Y. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.394-402
Turhan-Sayan, G.; Ergin, E. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.403-409
Investigations of resolution limits for indirect microwave holographic imaging
Yurduseven, O.; Smith, D.; Livingstone, B.; Schejbal, V.; You, Z. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.410-416
GPR data enhancement via multiple reflections' filtering
Caorsi, S.; Stasolla, M. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.417-422
An inverse scattering analysis without information of sources producing incident fields
Takenaka, T.; Moriyama, T. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.423-429
Genetic algorithm optimization of a planar slot array using full wave method-of-moments analysis
Rengarajan, S. R. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.430-436
RCS2D: A 2D MoM and FDTD-based scattering simulator
Torolu, G.; Uslu, M. A.; Sevgi, L. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.437-443
An eclectic approach to design tunable amplifiers
Nesimoglu, T.; Aydn, a.; Atilla, D. a.; Kpr, R.; Yarman, B. S. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.444-451
Measurement of thin conductive dielectric coating material parameters in a high noise environment
Solovey, A.; Mittra, R. John Wiley & Sons, Ltd 2013 p.452-458
SJR(SCImago Journal Rank)는 스페인 Consejo Superior de Investigaciones Cintificas의 Felix de Moya 교수에 의해 개발된 것으로, '모든 인용은 동등하지 않다'는 전제를 기반으로 둔 학술지의 영향력 지수입니다.
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