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이 학술지의 논문 검색
Analysis of fluorocarbon plasma damage on Si and its influence on Ti silicidation
Tezuka, Yoshihiro Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3569
Analysis of transference number measurements based on the potentiostatic polarization of solid
Doyle, Marc Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3465
Anodic oxidation of impure H2 on teflon-bonded Pt-Ru/WO3/C electrodes
Chen, K.Y Princeton Microfilm Corp 1995 p.pL185
Anodic Oxidation of Impure H~2 on Teflon-Bonded Pt-Ru/WO~3/C Electrodes
Chen, K. Y. ELECTROCHEMICAL SOCIETY INC 1995 p.L185
Anodic oxide growth on tantalum with AC + DC fields
Young, Lawrence Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3479
Anodic oxide growth on tantalum with AC + DC fields
Young, Lawrence Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3483
Asymmetric thermal effects in high temperature cells with solid electrolytes
Cleaver, B Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3409
Behavior of Fe impurity during HCl oxidation
Honda, Kouichirou Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3486
Bulk metal oxides as a model for the electronic properties of passive films
Schmuki, P Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3336
Cerium content and cycle life of multicomponent AB5 hydride electrodes
Adzic, G.D Princeton Microfilm Corp 1995 p.p3429
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