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      InGaAs 반도체 박막의 테라헤르쯔(THz) 발생 및 검출 특성 연구 = A Study on THz Generation and Detection Characteristics of InGaAs Semiconductor Epilayers

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      https://www.riss.kr/link?id=A103606049

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      In this paper, we report THz generation and detection characteristics investigated by InGaAs semiconductor epilayers, as results of a basic study obtained from the InGaAs-based THz transmitter/receiver (Tx/Rx). High-temperature and low-temperature (LT) grown InGaAs epilayers were prepared by the molecular beam epitaxy technique for the characterization of THz generation and detection, respectively, and the surface emission based on the photo-Dember effect was tried for THz generation. THz wave was generated by irradiation of a Ti:Sapphire fs pulse laser (60 ps/83 MHz), and a LT-GaAs Rx was used for the THz detection. The frequency band shown in the spectral amplitudes Fourier-transformed from the measured current signals was ranging in 0.5~2 THz, and the signal currents were exponentially increased with the Tx beam power. The THz detection characteristics of LT-InGaAs were investigated by using an Rx with dipole (5/20 ${\mu}m$) antenna, and the cutoff frequency was ~2 THz.
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      In this paper, we report THz generation and detection characteristics investigated by InGaAs semiconductor epilayers, as results of a basic study obtained from the InGaAs-based THz transmitter/receiver (Tx/Rx). High-temperature and low-temperature (LT...

      In this paper, we report THz generation and detection characteristics investigated by InGaAs semiconductor epilayers, as results of a basic study obtained from the InGaAs-based THz transmitter/receiver (Tx/Rx). High-temperature and low-temperature (LT) grown InGaAs epilayers were prepared by the molecular beam epitaxy technique for the characterization of THz generation and detection, respectively, and the surface emission based on the photo-Dember effect was tried for THz generation. THz wave was generated by irradiation of a Ti:Sapphire fs pulse laser (60 ps/83 MHz), and a LT-GaAs Rx was used for the THz detection. The frequency band shown in the spectral amplitudes Fourier-transformed from the measured current signals was ranging in 0.5~2 THz, and the signal currents were exponentially increased with the Tx beam power. The THz detection characteristics of LT-InGaAs were investigated by using an Rx with dipole (5/20 ${\mu}m$) antenna, and the cutoff frequency was ~2 THz.

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      참고문헌 (Reference)

      1 M. Tonouchi, 1 : 97-, 2007

      2 C. Baker, 13 : 9639-, 2005

      3 R. Ascazubi, 72 : 045328-, 2005

      4 J. L. Pan, 2 : 375-, 2003

      5 G. Klatt, 18 : 4939-, 2010

      6 I. S. Gregory, 41 : 717-, 2005

      7 S. Wang, 37 : 1-, 2004

      8 N. J. Kim, 19 : 15397-, 2011

      9 S.-P. Han, 36 : 3094-, 2011

      10 B. Sartorius, 17 : 15001-, 2009

      1 M. Tonouchi, 1 : 97-, 2007

      2 C. Baker, 13 : 9639-, 2005

      3 R. Ascazubi, 72 : 045328-, 2005

      4 J. L. Pan, 2 : 375-, 2003

      5 G. Klatt, 18 : 4939-, 2010

      6 I. S. Gregory, 41 : 717-, 2005

      7 S. Wang, 37 : 1-, 2004

      8 N. J. Kim, 19 : 15397-, 2011

      9 S.-P. Han, 36 : 3094-, 2011

      10 B. Sartorius, 17 : 15001-, 2009

      11 A. Tredicucci, 20 : 222-, 2005

      12 K. L. Vodopyanov, 2 : 11-, 2009

      13 G. Scalari, 3 : 45-, 2009

      14 H. Rochle, 18 : 2296-, 2010

      15 S. J. Oh, 90 : 131906-, 2007

      16 J. Sigmund, 87 : 252103-, 2005

      17 V. Ryzhii, 107 : 054512-, 2010

      18 G. Huang, 94 : 101115-, 2009

      19 P. V. V. Jayaweera, 90 : 111109-, 2007

      20 S. J. Lee, 2 : 286-, 2011

      21 S. Rihani, 96 : 091101-, 2010

      22 L. Joulaud, 97 : 063515-, 2005

      23 Y. Ko, 78 : 035201-, 2008

      24 신현욱, "계면 흡착에 의한 InAs/GaSb 초격자의 응력변조 효과" 한국진공학회 20 (20): 35-41, 2011

      25 이상준, "[InAs/GaSb] 응력 초격자에 기초한 [320×256]-FPA 적외선 열영상 모듈 제작" 한국진공학회 20 (20): 22-29, 2011

      26 K. Sakai, "Terahertz Optoelectronics" Springer 2005

      27 J. O. Kim, "THz Generation Characteristics of Low-temperature-grown InGaAs Emitters" 한국물리학회 58 (58): 1334-1338, 2011

      28 Chang-Sub Kim, "Annealing-induced Modifications of Carrier Dynamics and Plasmon-phonon Coupling in Low-temperature-grown GaAs" 한국물리학회 55 (55): 630-635, 2009

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      2014-01-01 학술지명변경 한글명 : 한국진공학회지 -> Applied Science and Convergence Technology KCI등재
      2013-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-05-23 학술지명변경 외국어명 : Journal of the Koren Cacuum Society -> Journal of the Koren Vacuum Society KCI등재
      2005-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
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      2016 0.12 0.12 0.15
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      0.13 0.1 0.328 0.03
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