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이 학술지의 논문 검색
Characterization of engineering surfaces by grazing-incidence x-ray reflectivity
Bowen, D. K. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.175
The feasibiliy of extended range monolithic x-ray interferometric calibrators
Chetwynd, D. G. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.183
Nanofabrication and characterization using a scanning tunneling microscope
Dagata, J. A. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.194
Progress towards traceable nanometric surface metrology
Franks, A. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.200
Applied measurements of multipurpose precise interferometer (AMOS-1)
Hosoe, S. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.206
FIM observation of point defect clusters in ion-implanted tungsten surfaces
Igata, N. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.213
Development of a force sensor for atomic force microscopy using piezoelectric thin films
Itoh, T. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.218
Mori, Y. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.225
Fourier analysis of phase contrast microscopy of nanometric surfaces
Rakels, J. H. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.230
A study of silicon-wafer surface evaluation using atomic force microscopy
Samitsu, Y. INSTITUTE OF PHYSICS PUBLISHING 1993 p.236
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