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      MEMS기반 에너지 하베스터 제작을 위한 실리콘 KOH 식각 모형화 = Modeling of Silicon Etch in KOH for MEMS Based Energy Harvester Fabrication

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      https://www.riss.kr/link?id=A101053751

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      Due to the high etch rate and low fabrication cost, the wet etching of silicon using KOH etchant is widely used in MEMS fabrication area. However, anisotropic etch characteristic obstruct intuitional mask design and compensation structures are require...

      Due to the high etch rate and low fabrication cost, the wet etching of silicon using KOH etchant is widely used in MEMS fabrication area. However, anisotropic etch characteristic obstruct intuitional mask design and compensation structures are required for mask design level. Therefore, the accurate modeling for various types of silicon surface is essential for fabrication of three-dimensional MEMS structure. In this paper, we modeled KOH etch profile for MEMS based energy harvester using fuzzy logic. Modeling results are compared with experimental results and it is applied to design of compensation structure for MEMS based energy harvester. Through Fuzzy inference approaches, developed model showed good agreement with the experimental results with limited etch rate information.

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      참고문헌 (Reference)

      1 S. Das, 15 : 1351-, 2006

      2 S. Saadon, 1 : 2011

      3 W. Peihong, 383 : 2010

      4 K. Sato, A64 : 87-, 1998

      5 A. Kociubiński, 4 : 65-, 2009

      6 Z. Zhu, 9 : 252-, 2000

      7 M. J. Madou, "Fundamentals of Microfabrication, 2nd ed" CRC Press 188-, 2002

      1 S. Das, 15 : 1351-, 2006

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      5 A. Kociubiński, 4 : 65-, 2009

      6 Z. Zhu, 9 : 252-, 2000

      7 M. J. Madou, "Fundamentals of Microfabrication, 2nd ed" CRC Press 188-, 2002

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      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (재인증) KCI등재
      2017-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2013-01-01 평가 등재 1차 FAIL (등재유지) KCI등재
      2010-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2006-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2005-05-30 학회명변경 영문명 : 미등록 -> The Korean Institute of Electrical and Electronic Material Engineers KCI등재
      2004-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2001-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      1998-07-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      2016 0.13 0.13 0.13
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.14 0.14 0.247 0.06
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