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    반응표면분석법을 이용한 LED Die Bonding 공정능력 최적화

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    국문 초록 (Abstract) kakao i 다국어 번역

    LED 칩 패키징에서 다이 본딩은 웨이퍼에서 분할된 다이를 리드 프레임에 접착제로 고정시켜 칩이 다음 공 정을 견딜 수 있는 충분한 강도를 제공하는 중요한 공정이다. 본 논문에서는 PLCC 구조 LED 패키지 프레임에 소형 제너 다이오드를 부착하는 다이 본딩 공정능력의 최적화를 위하여 공정에 영향을 미치는 여러 인자를 분석하여 반응 표면분석법을 적용하여 그 결과를 도출하였다. 인자를 분석하여 5인자 3수준 4반응치를 고려하여 실험계획법을 수립 하였으며, 그 결과 모든 반응치의 목표를 만족하는 최적 조건을 확보할 수 있었다.
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    LED 칩 패키징에서 다이 본딩은 웨이퍼에서 분할된 다이를 리드 프레임에 접착제로 고정시켜 칩이 다음 공 정을 견딜 수 있는 충분한 강도를 제공하는 중요한 공정이다. 본 논문에서는 PLCC 구...

    LED 칩 패키징에서 다이 본딩은 웨이퍼에서 분할된 다이를 리드 프레임에 접착제로 고정시켜 칩이 다음 공 정을 견딜 수 있는 충분한 강도를 제공하는 중요한 공정이다. 본 논문에서는 PLCC 구조 LED 패키지 프레임에 소형 제너 다이오드를 부착하는 다이 본딩 공정능력의 최적화를 위하여 공정에 영향을 미치는 여러 인자를 분석하여 반응 표면분석법을 적용하여 그 결과를 도출하였다. 인자를 분석하여 5인자 3수준 4반응치를 고려하여 실험계획법을 수립 하였으며, 그 결과 모든 반응치의 목표를 만족하는 최적 조건을 확보할 수 있었다.

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    다국어 초록 (Multilingual Abstract) kakao i 다국어 번역

    In LED chip packaging, die bonding is a very important process which fixes the LED chip on the lead frame to provide enough strength for the next process. This paper focuses on the process optimization of a LED die bonding, which attaches small zener diode chip on PLCC LED package frame, using response surface analysis. Design of experiment (DOE) of 5 factors, 3 levels and 5 responses are considered, and the results are investigated. As the results, optimal conditions those satisfy all response objects can be derived.
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    In LED chip packaging, die bonding is a very important process which fixes the LED chip on the lead frame to provide enough strength for the next process. This paper focuses on the process optimization of a LED die bonding, which attaches small zener ...

    In LED chip packaging, die bonding is a very important process which fixes the LED chip on the lead frame to provide enough strength for the next process. This paper focuses on the process optimization of a LED die bonding, which attaches small zener diode chip on PLCC LED package frame, using response surface analysis. Design of experiment (DOE) of 5 factors, 3 levels and 5 responses are considered, and the results are investigated. As the results, optimal conditions those satisfy all response objects can be derived.

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    참고문헌 (Reference)

    1 박율기, "직교배열을 이용한 통합물류시스템의 실험 설계 및 분석방법" 한국산학기술학회 12 (12): 5622-5632, 2011

    2 류장렬, "제조 공정의 개선을 통한 백색 LED 칩의 성능 개선" 한국산학기술학회 13 (13): 329-332, 2012

    3 박동삼, "신경회로망 및 반응표면분석법을 이용한 파우더 블라스팅시의 표면거칠기 및 재료제거량 예측" 한국기계가공학회 6 (6): 33-41, 2007

    4 H. H. Kim, "Thermal Transient Characteristics of Die Attach in High Power LED PKG" 48 : 445-454, 2008

    5 R. H. Myers, "Response Surface Methodology : process and product optimization using designed experiment" Wiley-Interscience Publication 2002

    6 G. E. P. Box, "On the Experimental Attainment of Optimum Conditions" 13 : 1-45, 1951

    7 이동우, "Failure Load Prediction of Tunnel Support using DOE and Optimization Algorithm" 한국산학기술학회 13 (13): 1480-1487, 2012

    1 박율기, "직교배열을 이용한 통합물류시스템의 실험 설계 및 분석방법" 한국산학기술학회 12 (12): 5622-5632, 2011

    2 류장렬, "제조 공정의 개선을 통한 백색 LED 칩의 성능 개선" 한국산학기술학회 13 (13): 329-332, 2012

    3 박동삼, "신경회로망 및 반응표면분석법을 이용한 파우더 블라스팅시의 표면거칠기 및 재료제거량 예측" 한국기계가공학회 6 (6): 33-41, 2007

    4 H. H. Kim, "Thermal Transient Characteristics of Die Attach in High Power LED PKG" 48 : 445-454, 2008

    5 R. H. Myers, "Response Surface Methodology : process and product optimization using designed experiment" Wiley-Interscience Publication 2002

    6 G. E. P. Box, "On the Experimental Attainment of Optimum Conditions" 13 : 1-45, 1951

    7 이동우, "Failure Load Prediction of Tunnel Support using DOE and Optimization Algorithm" 한국산학기술학회 13 (13): 1480-1487, 2012

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    2015-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2011-01-01 등재 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
    2008-01-01 등재 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
    2007-08-28 학술지등록 한글명 : 한국산학기술학회논문지
    외국어명 : Journal of Korea Academia-Industrial cooperation Society
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    2007-07-06 학회명변경 영문명 : The Korean Academic Inderstrial Society -> The Korea Academia-Industrial cooperation Society KCI등재후보
    2007-01-01 등재 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
    2005-01-01 등재 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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    학술지 인용정보

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    기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
    2016 0.68 0.68 0.68
    KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
    0.66 0.61 0.842 0.23
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