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Morphological and electrical comparison of Ti and Ta based ohmic contacts for AlGaN/GaN-on-SiC HFETs
Pooth, A.; Bergsten, J.; Rorsman, N.; Hirshy, H.; Perks, R.; Tasker, P.; Martin, T.; Webster, R.F.; Cherns, D.; Uren, M.J.; Kuball, M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.2-4
Determination of safe reliability region over temperature and current density for through wafer vias
Whitman, Charles S.; Meeder, Michael G.; Zampardi, Peter J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.5-12
Poling, B.S.; Via, G.D.; Bole, K.D.; Johnson, E.E.; McDermott, J.M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.13-20
Total Ionizing Dose, Random Dopant Fluctuations, and its combined effect in the 45nm PDSOI node
Chatzikyriakou, Eleni; Redman-White, William; Groot, C.H. De Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.21-29
A new meshing criterion for the equivalent thermal analysis of GaAs PHEMT MMICs
Xu, Xiuqin; Mo, Jiongjiong; Chen, Wei; Wang, Zhiyu; Shang, Yongheng; Wang, Yang; Zheng, Qin; Wang, Liping; Huang, Zhengliang; Yu, Faxin Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.30-38
Heat transfer enhancement of LEDs with a combination of piezoelectric fans and a heat sink
Sufian, S.F.; Abdullah, M.Z. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.39-50
Investigation of read disturb in split-gate memory and its feasible solution
Zhu, Wenyi; Li, Binghan; Yu, Tao; Kong, Weiran; Zou, Shichan Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.51-56
DIRT latch: A novel low cost double node upset tolerant latch
Eftaxiopoulos, Nikolaos; Axelos, Nicholas; Pekmestzi, Kiamal Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2017 p.57-68
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