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      Development of the Measurement Method of Extremely Low Level Activity with Imaging Plate

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      https://www.riss.kr/link?id=A75272862

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      목차 (Table of Contents)

      • Abstract
      • 요약
      • 서론
      • Imaging Plate
      • IP 검출기술을 이용한 면적선원의 표면균질도 측정
      • Abstract
      • 요약
      • 서론
      • Imaging Plate
      • IP 검출기술을 이용한 면적선원의 표면균질도 측정
      • IP 검출기의 특성 조사
      • 스크린 균질도
      • 배경방사선 차폐
      • 퇴행 시간
      • 자연방사능 측정 절차
      • 결과
      • 참고문헌
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