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The effects of atomic force microscopy upon nominated living cells
O'Hagan, B. M.; Doyle, P.; Allen, J. M.; Sutton, K.; McKerr, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.1-5
Modeling electric-field-sensitive scanning probe measurements for a tip of arbitrary shape
Kuljanishvili, I.; Chakraborty, S.; Maasilta, I. J.; Tessmer, S. H.; Melloch, M. R. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.7-12
Symmetries in BF and HAADF STEM image calculations
Watanabe, K.; Asano, E.; Yamazaki, T.; Kikuchi, Y.; Hashimoto, I. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.13-21
Location specific in situ TEM straining specimens made using FIB
Field, R. D.; Papin, P. A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.23-26
Automated spatial drift correction for EFTEM image series
Schaffer, B.; Grogger, W.; Kothleitner, G. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.27-36
On the transport of intensity technique for phase retrieval
Beleggia, M.; Schofield, M. A.; Volkov, V. V.; Zhu, Y. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.37-49
Influence of the atomic force microscope tip on the multifractal analysis of rough surfaces
Klapetek, P.; Ohlidal, I.; Bilek, J. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.51-59
The magic angle: a solved mystery
Jouffrey, B.; Schattschneider, P.; Hebert, C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.61-66
Noise bias in the refinement of structures derived from single particles
Stewart, A.; Grigorieff, N. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2004 p.67-84
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