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Precise measurement of third-order spherical aberration using low-order zone-axis Ronchigrams
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Weirich, T. E.; Portillo, J.; Cox, G.; Hibst, H.; Nicolopoulos, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.164-175
Electron diffraction analysis of individual single-walled carbon nanotubes
Meyer, J. C.; Paillet, M.; Duesberg, G. S.; Roth, S. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.176-190
Alexeev, A.; Loos, J.; Koetse, M. M. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.191-199
Houben, L.; Thust, A.; Urban, K. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.200-214
Interpretation of Oxygen K pre-edge peak in complex oxides
Jiang, N.; Spence, J. C. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.215-219
Differential algebraic method for aberration analysis of typical electrostatic lenses
Liu, Z. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.220-232
Nakanishi, N.; Kotaka, Y.; Yamazaki, T. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.233-239
Winkler, H.; Taylor, K. A. Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2006 p.240-254
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