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      연결 성분 분석과 크기 정규화를 이용한 도로 노면 표시와 숫자 인식 = Recognition of Road Surface Marks and Numbers Using Connected Component Analysis and Size Normalization

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      https://www.riss.kr/link?id=A108086955

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract) kakao i 다국어 번역

      This paper proposes a new method for the recognition of road surface marks and numbers. The proposed method designates a region of interest on the road surface without first detecting a lane. The road surface markings are extracted by location and size using a connection component analysis. Distortion due to the perspective effect is minimized by normalizing the size of the road markings. The road surface marking of the connected component is recognized by matching it with the stored road marking templates. The proposed method is implemented using C language in Raspberry Pi 4 system with a camera module for a real-time image processing. The system was fixedly installed in a moving vehicle, and it recorded a video like a vehicle black box. Each frame of the recorded video was extracted, and then the proposed method was tested. The results show that the proposed method is successful for the recognition of road surface marks and numbers.
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      This paper proposes a new method for the recognition of road surface marks and numbers. The proposed method designates a region of interest on the road surface without first detecting a lane. The road surface markings are extracted by location and siz...

      This paper proposes a new method for the recognition of road surface marks and numbers. The proposed method designates a region of interest on the road surface without first detecting a lane. The road surface markings are extracted by location and size using a connection component analysis. Distortion due to the perspective effect is minimized by normalizing the size of the road markings. The road surface marking of the connected component is recognized by matching it with the stored road marking templates. The proposed method is implemented using C language in Raspberry Pi 4 system with a camera module for a real-time image processing. The system was fixedly installed in a moving vehicle, and it recorded a video like a vehicle black box. Each frame of the recorded video was extracted, and then the proposed method was tested. The results show that the proposed method is successful for the recognition of road surface marks and numbers.

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      참고문헌 (Reference)

      1 김용식 ; 이은택 ; 양기영, "산업용 클린룸 내 초미립자 가시화 시스템 개발 및 성능 검증" 대한건축학회 22 (22): 357-364, 2006

      2 최광민 ; 이지은 ; 조귀영 ; 김관식 ; 조수헌, "반도체 웨이퍼 제조공정 클린룸 구조, 공기조화 및 오염제어시스템" 한국산업보건학회 25 (25): 202-210, 2015

      3 최부헌 ; 김태한, "공조풍량별 식생바이오필터의 입자상 오염물질 저감효과 연구" 한국반도체디스플레이기술학회 20 (20): 89-95, 2021

      4 PMS, "Particle Transportation"

      5 Seung-Ki Chae, "Particle Measurement and Analysis in Semiconductor Manufacturing Process" 39 (39): 398-404, 1995

      6 International Organization for Standardization (ISO), "ISO 14644-1, Cleanrooms and associate controlled environments-Part 1: classification of air cleanliness"

      7 PMS, "An Analysis of Acceptable Particle Losses in Transport Tubing"

      8 PMS, "Airborne Particle Measurements: 100 LPM vs. 1 CFM Particle Counters in a Semiconductor Cleanroom Environment"

      1 김용식 ; 이은택 ; 양기영, "산업용 클린룸 내 초미립자 가시화 시스템 개발 및 성능 검증" 대한건축학회 22 (22): 357-364, 2006

      2 최광민 ; 이지은 ; 조귀영 ; 김관식 ; 조수헌, "반도체 웨이퍼 제조공정 클린룸 구조, 공기조화 및 오염제어시스템" 한국산업보건학회 25 (25): 202-210, 2015

      3 최부헌 ; 김태한, "공조풍량별 식생바이오필터의 입자상 오염물질 저감효과 연구" 한국반도체디스플레이기술학회 20 (20): 89-95, 2021

      4 PMS, "Particle Transportation"

      5 Seung-Ki Chae, "Particle Measurement and Analysis in Semiconductor Manufacturing Process" 39 (39): 398-404, 1995

      6 International Organization for Standardization (ISO), "ISO 14644-1, Cleanrooms and associate controlled environments-Part 1: classification of air cleanliness"

      7 PMS, "An Analysis of Acceptable Particle Losses in Transport Tubing"

      8 PMS, "Airborne Particle Measurements: 100 LPM vs. 1 CFM Particle Counters in a Semiconductor Cleanroom Environment"

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      2019-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2016-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2012-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2010-03-25 학회명변경 한글명 : 한국반도체및디스플레이장비학회 -> 한국반도체디스플레이기술학회
      영문명 : The Korean Society of Semiconductor & Display Equipment Technology -> The Korean Society of Semiconductor & Display Technology
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      2010-03-25 학술지명변경 한글명 : 반도체및디스플레이장비학회지 -> 반도체디스플레이기술학회지
      외국어명 : Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology -> Journal of the Semiconductor & Display Technology
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      2009-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
      2008-01-01 평가 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) KCI등재후보
      2006-01-01 평가 등재후보학술지 선정 (신규평가) KCI등재후보
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.29 0.29 0.26
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.21 0.18 0.217 0.02
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