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Quality in Metrology-Metrology for Quality
Weckenmann, A.; Hoffmann, J. VDI; 1999 2004 p.1-10
3D optical Measuring Technologies for Industrial Applications
Chugui, Y. V.; Koutchinski, K. I.; Plotnikov, S. V.; Sotnikov, V. V. VDI; 1999 2004 p.11-24
Absolute Calibration of Interferometric Setups for Testing of Aspheric Surfaces
Prus, C.; Reichelt, S.; Tiziani, H. J.; Osten, W. VDI; 1999 2004 p.25-30
Mathia, T.; Hilerio, I.; Alepee, C. VDI; 1999 2004 p.31-42
Chugui, Y. V.; Yakovenko, N. A.; Yaluplin, M. D. VDI; 1999 2004 p.43-52
Optical 3D Shape Measurement with Structured Light
Couweleers, F.; Skotheim, O.; Tveiten, B. W. VDI; 1999 2004 p.53-58
The advanced Optical Methods for measurement of kinematical and structural parameters of Flows
Dubnishchev, Y. N.; Arbuzov, V. A.; Belousov, P. P.; Belousov, P. Y. VDI; 1999 2004 p.59-66
Redundant Measurements Using Laser Interferometer on Coordinate Measuring Machine
Zeleny, V.; Skalnik, P. VDI; 1999 2004 p.67-72
The Use of CMM Techniques to Assess the Functionality of Total Knee Replacements
Bills, P.; Blunt, L.; Hardaker, C. VDI; 1999 2004 p.73-80
Sanchez, J.; Santillan, S. VDI; 1999 2004 p.81-86
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