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      유기발광 다이오드의 정공수송층 두께에 따른 미소 공진 효과의 영향에 관한 연구 = A study on the effects of micro cavity on the HTL thicknesses on the top emission organic light emitting diode

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      https://www.riss.kr/link?id=A108086968

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      Top emission organic light-emitting diode is commonly used because of high efficiency and good color purity than bottom – emission organic light-emitting device. Unlike BEOLED, TEOLED contain semi-transparent metal cathode. Because of semi-transparent cathode, micro cavity effect occurs in TEOLED. We optimized this effect by changing the thickness of hole injection layer. Device consists of is indium-tin-oxide / N,N'-Di-[(1-naphthyl)-N,N'-diphenyl]-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine (x nm) / tris-(8-hydroxyquinoline) aluminum (50nm) / LiF(0.5nm) / Mg:Ag (1:9), and we changed NPB thickness which is used as HTL in our device in order to study how micro cavity effects are changed by optical path. As the results, NPB thickness at 35nm showed the current efficiency of 8.55Cd/A.
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      Top emission organic light-emitting diode is commonly used because of high efficiency and good color purity than bottom – emission organic light-emitting device. Unlike BEOLED, TEOLED contain semi-transparent metal cathode. Because of semi-transpare...

      Top emission organic light-emitting diode is commonly used because of high efficiency and good color purity than bottom – emission organic light-emitting device. Unlike BEOLED, TEOLED contain semi-transparent metal cathode. Because of semi-transparent cathode, micro cavity effect occurs in TEOLED. We optimized this effect by changing the thickness of hole injection layer. Device consists of is indium-tin-oxide / N,N'-Di-[(1-naphthyl)-N,N'-diphenyl]-1,1'-biphenyl-4,4'-diamine (x nm) / tris-(8-hydroxyquinoline) aluminum (50nm) / LiF(0.5nm) / Mg:Ag (1:9), and we changed NPB thickness which is used as HTL in our device in order to study how micro cavity effects are changed by optical path. As the results, NPB thickness at 35nm showed the current efficiency of 8.55Cd/A.

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      참고문헌 (Reference)

      1 김관도, "플렉시블 OLED 패시베이션용 유기 박막 제작 및 특성" 한국반도체디스플레이기술학회 19 (19): 93-96, 2020

      2 Kim Seong Keun ; Lampande Raju ; Kwon Jang Hyuk, "Technical status of top-emission organic light-emitting diodes" 한국정보디스플레이학회 22 (22): 115-126, 2021

      3 Li, J., "Micro Organic Light Emitting Diode Arrays by Patterned Growth on Structured Polypyrrole" 8 : 1902105-, 2020

      4 Duhee Cho, "Light extraction of OLED lighting" 12 (12): 49-60, 2011

      5 Liu, Jh., "Effect of Al:Ag alloy cathode on the performance of transparent organic light-emitting devices" 13 : 175-178, 2017

      6 N. S. Cho, "Current Status of OLED Technology andMarket" 24 (24): 126-134, 2013

      7 Eunhye Kim, "A systematic approach to reducing angular color shift in cavity-based organic light-emitting diodes" 48 : 348-356, 2017

      8 Chien-Jung Chiang, "A nano-indentation study of the reduced elastic modulus of Alq3 and NPB thin-film used in OLED devices" 11 (11): 450-455, 2010

      1 김관도, "플렉시블 OLED 패시베이션용 유기 박막 제작 및 특성" 한국반도체디스플레이기술학회 19 (19): 93-96, 2020

      2 Kim Seong Keun ; Lampande Raju ; Kwon Jang Hyuk, "Technical status of top-emission organic light-emitting diodes" 한국정보디스플레이학회 22 (22): 115-126, 2021

      3 Li, J., "Micro Organic Light Emitting Diode Arrays by Patterned Growth on Structured Polypyrrole" 8 : 1902105-, 2020

      4 Duhee Cho, "Light extraction of OLED lighting" 12 (12): 49-60, 2011

      5 Liu, Jh., "Effect of Al:Ag alloy cathode on the performance of transparent organic light-emitting devices" 13 : 175-178, 2017

      6 N. S. Cho, "Current Status of OLED Technology andMarket" 24 (24): 126-134, 2013

      7 Eunhye Kim, "A systematic approach to reducing angular color shift in cavity-based organic light-emitting diodes" 48 : 348-356, 2017

      8 Chien-Jung Chiang, "A nano-indentation study of the reduced elastic modulus of Alq3 and NPB thin-film used in OLED devices" 11 (11): 450-455, 2010

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      2019-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2016-01-01 평가 등재학술지 유지 (계속평가) KCI등재
      2012-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2010-03-25 학회명변경 한글명 : 한국반도체및디스플레이장비학회 -> 한국반도체디스플레이기술학회
      영문명 : The Korean Society of Semiconductor & Display Equipment Technology -> The Korean Society of Semiconductor & Display Technology
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      2010-03-25 학술지명변경 한글명 : 반도체및디스플레이장비학회지 -> 반도체디스플레이기술학회지
      외국어명 : Journal of the Semiconductor and Display Equipment Technology -> Journal of the Semiconductor & Display Technology
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      2009-01-01 평가 등재학술지 선정 (등재후보2차) KCI등재
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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.29 0.29 0.26
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.21 0.18 0.217 0.02
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