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Formal methods in pattern recognition: A review
Nieddu, Luciano ; Patrizi, Giacomo North-Holland Pub. Co 2000 p.459-495
A study of high-level managerial decision processes, with implications for MCDM research
Kasanen, Eero ; Wallenius, Hannele ; Wallenius, Jyrki ; Zionts, Stanley North-Holland Pub. Co 2000 p.496-510
Optimal multiple stage expansion of competence set
Li, Jian-Ming ; Chiang, Chin-I ; Yu, Po-Lung North-Holland Pub. Co 2000 p.511-524
The Greek banking system: Reanalysis of performance
Raveh, Adi North-Holland Pub. Co 2000 p.525-534
Tool capacity planning for semiconductor fabrication facilities under demand uncertainty
Swaminathan, Jayashankar M. North-Holland Pub. Co 2000 p.545-558
Minimizing makespan on a single burn-in oven in semiconductor manufacturing
Sung, C.S. ; Choung, Y.I. North-Holland Pub. Co 2000 p.559-574
Optimal production run length for products sold with warranty
Yeh, Ruey Huei ; Ho, Wen-Tsung ; Tseng, Sheng-Tsaing North-Holland Pub. Co 2000 p.575-582
Dror, M. ; Haouari, M. ; Chaouachi, J. North-Holland Pub. Co 2000 p.583-592
An evolutionary approach for finding optimal trees in undirected networks
Smith, David K ; Walters, Godfrey A North-Holland Pub. Co 2000 p.593-602
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