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이 학술지의 논문 검색
The likely origin and calculability of physical constants
Kotyuk, A. F.; Khromov, A. V. Springer Science + Business Media 2008 p.567-574
Effects of random-process classification characteristics on measurement processing accuracy
Prokhorenkov, A. M.; Kachala, N. M. Springer Science + Business Media 2008 p.575-581
A method of processing measurements with structurally undefined interference
Bulychev, Y. G.; Eliseev, A. V.; Lapsar’, A. P. Springer Science + Business Media 2008 p.582-589
Gusev, A. V. Springer Science + Business Media 2008 p.590-593
Linearity measurement in an atomic-force microscope
Rakov, A. V.; Novikov, Y. A.; Todua, P. A. Springer Science + Business Media 2008 p.594-598
Novikov, Y. A.; Rakov, A. V.; Todua, P. A. Springer Science + Business Media 2008 p.599-604
Calibrating a scanning electron microscope in two coordinates by the use of one certified dimension
Volk, C. P.; Novikov, Y. A.; Rakov, A. V.; Todua, P. A. Springer Science + Business Media 2008 p.605-608
The Vint device for thread control
Mironchenko, V. I.; Uvarov, A. V. Springer Science + Business Media 2008 p.609-613
Measurement of surface roughness profile by a triangulation method
Demkin, V. N.; Stepanov, V. A. Springer Science + Business Media 2008 p.614-617
Estimating the total error for a distributed group standard for time and frequency
Blinov, I. Y.; Goncharov, A. S. Springer Science + Business Media 2008 p.618-622
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