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Yoo, Jung Ho, Yang, Jun-Mo Korean Society of Microscopy 2015 p.189-194
Kim, Ji-Soo, Nam, Sang-Yeol,Choi, Young-Hwan,Park, Ju-Cheol Korean Society of Microscopy 2015 p.195-198
Transmission Electron Microscopy Sample Preparation of Ge2Sb2Te5 Nanowire Using Electron Beam
Lee, Hee-Sun, Lee, Jun-Young,Yeo, Jong-Souk Korean Society of Microscopy 2015 p.199-202
Lee, Sang-Gil, Lee, Ji-Hyun,Yoo, Seung Jo,Datta, Suvo Jit,Hwang, In-Chul,Yoon, Kyung-Byung,Kim, Jin-Gyu Korean Society of Microscopy 2015 p.203-207
Advanced Methodologies for Manipulating Nanoscale Features in Focused Ion Beam
Kim, Yang-Hee, Seo, Jong-Hyun,Lee, Ji Yeong,Ahn, Jae-Pyoung Korean Society of Microscopy 2015 p.208-213
Specimen Preparation for Scanning Electron Microscope Using a Converted Sample Stage
Kim, Hyelan, Kim, Hyo-Sik,Yu, Seungmin,Bae, Tae-Sung Korean Society of Microscopy 2015 p.214-217
Technical Overview on the Electron Backscattered Diffraction Sample Preparation
Kim, Dong-Ik, Kim, Byung-Kyu,Kim, Ju-Heon Korean Society of Microscopy 2015 p.218-224
Lu, Ning, Wang, Jinguo,Oviedo, uan Pablo,Lian, Guoda,Kim, Moon Jea Korean Society of Microscopy 2015 p.225-229
Huang, Xuefei, Huang, Weigang Korean Society of Microscopy 2015 p.230-235
Characterization and Electrical Conductivity of Carbon-Coated Metallic (Ni, Cu, Sn) Nanocapsules
Wang, Dong Xing, Shah, Asif,Zhou, Lei,Zhang, Xue Feng,Liu, Chun Jing,Huang, Hao,Dong, Xing Long Korean Society of Microscopy 2015 p.236-241
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