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Hydrogen passivation of defects and impurities in GaAs and InP
Omeljanovsky, E. M.;Pakhomov, A. V.Polyakov, A. Y. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.659-670
Parameters affecting thermal fatigue behavior of 60Sn-40Pb solder joints
Frear, D.;Grivas, D.Morris, J. W. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.671-680
Photoluminescence characterization of ultrahigh purity silicon
Schumacher, Kimberly L.Whitney, Raymond L. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.681-687
Eng, David C.;Herbots, Nicole;Hellman, Olof C.;Vancauwenberghe, Olivier;Motakef, ShahrnazCulbertson, Robert J. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.689-693
Wang, C. A.;Choi, H. K.Connors, M. K. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.695-701
Infra-red striagraph topography for imaging defects in semiconductor crystals
Barns, R. L. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.703-710
Selective deposition of diamond films
Davidson, J. L.;Ellis, C.Ramesham, R. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.711-715
Orientation dependentp-type conversion of Fe:InP in hydride VPE regrown EMBH lasers
Johnson, B. C.;Bridges, T. J.Storz, F. G. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.717-720
Silicon preamorphization and shallow junction formation for ULSI circuits
Wu, C. P.;McGinn, J. T.Hewitt, L. R. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.721-730
In-situ processing using rapid thermal chemical vapor deposition
Murali, V.;Wu, A. T.;Dass, L.;Frost, M. R.;Fraser, D. B.;Liao, J.Crowley, J. Minerals, Metals & Materials Society and IEEE 1989 p.731-736
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