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High-Temperature Thermoelectric Characterization of III–V Semiconductor Thin Films by Oxide Bonding
Bahk, J. H.; Zeng, G.; Zide, J. M.; Lu, H.; Singh, R.; Liang, D.; Ramu, A. T.; Burke, P.; Bian, Z.; Gossard, A. C. Springer Science + Business Media 2010 p.1125-1132
Thermoelectric Properties of Layer-Antiferromagnet CuCrS2
Tewari, G. C.; Tripathi, T. S.; Rastogi, A. K. Springer Science + Business Media 2010 p.1133-1139
Critical Layer Thickness in Exponentially Graded Heteroepitaxial Layers
Sidoti, D.; Xhurxhi, S.; Kujofsa, T.; Cheruku, S.; Reed, J.; Bertoli, B.; Rago, P. B.; Suarez, E. N.; Jain, F. C.; Ayers, J. E. Springer Science + Business Media 2010 p.1140-1145
Seo, H. C.; Petrov, I.; Kim, K. Springer Science + Business Media 2010 p.1146-1151
Electron–Electron Interactions in Sb-Doped SnO2 Thin Films
Serin, T. l.; Yildiz, A.; Serin, N.; Yildirim, N.; Özyurt, F.; Kasap, M. Springer Science + Business Media 2010 p.1152-1158
Improved Thermoelectric Performance and Mechanical Properties of Nanostructured Melt-Spun β-Zn4Sb3
Qi, D.; Tang, X.; Li, H.; Yan, Y.; Zhang, Q. Springer Science + Business Media 2010 p.1159-1165
Sources of Epitaxial Growth-Induced Stacking Faults in 4H-SiC
Feng, G.; Suda, J.; Kimoto, T. Springer Science + Business Media 2010 p.1166-1169
Pineiz, T. F.; Scalvi, L. V.; Saeki, M. J.; Morais, E. A. Springer Science + Business Media 2010 p.1170-1176
Mukherjee, N.; Mondal, A. Springer Science + Business Media 2010 p.1177-1185
Optical Study of Filled Tetrahedral Compounds Li3AlN2 and Li3GaN2
Dadsetani, M.; Namjoo, S.; Nejati, H. Springer Science + Business Media 2010 p.1186-1193
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