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      KCI등재 SCI SCIE SCOPUS

      Single-Electron Pass-Transistor Logic with Multiple Tunnel Junctions and Its Hybrid Circuit with MOSFETs

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      https://www.riss.kr/link?id=A103374203

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      To improve the operation error caused by the
      thermal fluctuation of electrons, we propose a novel singleelectron
      pass-transistor logic circuit employing a multipletunnel
      junction (MTJ) scheme and modulate a parameters of
      an MTJ single-electron tunneling device (SETD) such as the
      number of tunnel junctions, tunnel resistance, and voltage gain.
      The operation of a 3-MTJ inverter circuit is simulated at 15 K
      with parameters Cg=CT=Cclk=1 aF, RT=5 MΩ, Vclk=40 mV,
      and Vin=20 mV. Using the SETD/MOSFET hybrid circuit, the
      charge state output of the proposed MTJ-SETD logic is
      successfully translated to the voltage state logic.
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      To improve the operation error caused by the thermal fluctuation of electrons, we propose a novel singleelectron pass-transistor logic circuit employing a multipletunnel junction (MTJ) scheme and modulate a parameters of an MTJ single-electron tunneli...

      To improve the operation error caused by the
      thermal fluctuation of electrons, we propose a novel singleelectron
      pass-transistor logic circuit employing a multipletunnel
      junction (MTJ) scheme and modulate a parameters of
      an MTJ single-electron tunneling device (SETD) such as the
      number of tunnel junctions, tunnel resistance, and voltage gain.
      The operation of a 3-MTJ inverter circuit is simulated at 15 K
      with parameters Cg=CT=Cclk=1 aF, RT=5 MΩ, Vclk=40 mV,
      and Vin=20 mV. Using the SETD/MOSFET hybrid circuit, the
      charge state output of the proposed MTJ-SETD logic is
      successfully translated to the voltage state logic.

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      참고문헌 (Reference)

      1 Y. Ono, "Single-Electron Pass-Transistor Logic:Operation of Its Elemental Circuit" 297-300, 2000

      2 N. Asahi,, "Single-Electron LogicDevice Based on the Binary Decision Diagram" 44 (44): 1109-1116, 1997

      3 R.H. Chen, "Multiple-Junction Single-ElectronTransistors for Digital Applications" 72 : 61-63, 1998

      4 D. Averin, "Mesoscopic Phenomena in Solid" 173-271, 1991

      5 J.R. Tucker, "Complementary Digital Logic Based on theCoulomb Blockade" 72 : 1992-, pp.4339-4413.

      6 C.S. Lent,, "Bistable Saturation inCoupled Quantum Dots for Quantum Cellular Automata" 62 : 912-923, 1996

      7 B.H. Lee, "A Novel SET/MOSFET Hybrid StaticMemory Cell Design" 3 : 377-382, 2004

      8 K. Uchida,, "A New DesignScheme for Logic Circuits with Single Electron Transistors" 38 : 4027-4032, 1999

      1 Y. Ono, "Single-Electron Pass-Transistor Logic:Operation of Its Elemental Circuit" 297-300, 2000

      2 N. Asahi,, "Single-Electron LogicDevice Based on the Binary Decision Diagram" 44 (44): 1109-1116, 1997

      3 R.H. Chen, "Multiple-Junction Single-ElectronTransistors for Digital Applications" 72 : 61-63, 1998

      4 D. Averin, "Mesoscopic Phenomena in Solid" 173-271, 1991

      5 J.R. Tucker, "Complementary Digital Logic Based on theCoulomb Blockade" 72 : 1992-, pp.4339-4413.

      6 C.S. Lent,, "Bistable Saturation inCoupled Quantum Dots for Quantum Cellular Automata" 62 : 912-923, 1996

      7 B.H. Lee, "A Novel SET/MOSFET Hybrid StaticMemory Cell Design" 3 : 377-382, 2004

      8 K. Uchida,, "A New DesignScheme for Logic Circuits with Single Electron Transistors" 38 : 4027-4032, 1999

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      2020-01-01 평가 등재학술지 유지 (해외등재 학술지 평가) KCI등재
      2005-09-27 학술지등록 한글명 : ETRI Journal
      외국어명 : ETRI Journal
      KCI등재
      2003-01-01 평가 SCI 등재 (신규평가) KCI등재
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.78 0.28 0.57
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.47 0.42 0.4 0.06
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