자동부품검사를 위한 웨이블렛 변환기반 영상정합 = Wavelet Transform Based Image Template Matching for Automatic Component Inspection

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

We propose a template matching method for component inspection of SMD assembly system. To discriminate wrong assembled components, the input image of component is matched with its standard image by template matching algorithm. For a fast inspection system, the calculation time of matching algorithm should be minimized. Since the standard images of all components located in a PCB are stored in computer, it is desirable to minimize the memory size of standard image. We apply the discrete wavelet transformation to minimize the image size as well as the calculation time. Only 7% memory of the BMP image is used to discriminate goodness or badness of components assembly. Comparative results are presented to verify the usefulness of the proposed method.

목차 (Table of Contents)

• Ⅰ. 서 론 1
• 1.1 연구배경 1
• 1.2 자동 광학 검사기 3
• 1.2.1 SMD 조립 공정 3
• 1.2.2 자동 광학 검사기 5
• 1.2.3 자동 광학 검사용 영상정합 7
• 1.3 기존 영상정합 방법 8
• 1.3.1 전역 탐색에 의한 영상정합 10
• 1.3.2 격자 세밀 구조 영상정합 12
• 1.3.3 분해능 변화 영상정합 14
• 1.3.4 히스토그램을 이용한 영상정합 15
• 1.3.5 이산 코사인 변환을 이용한 영상정합 16
• 1.4 연구 목적 18
• 1.5 논문 구성 19
• Ⅱ. 영상의 웨이블렛 변환 20
• 2.1 웨이블렛 변환 20
• 2.2 이산 웨이블렛 변환 21
• 2.3 웨이블렛 변환의 응용 분야 23
• 2.3.1 영상 압축 23
• 2.3.2 컴퓨터 및 휴먼 비젼 24
• 2.3.3 데이터의 노이즈 제거 25
• 2.3.4 복잡한 영상의 단순 처리 26
• Ⅲ. 이산 웨이블렛 변환을 이용한 영상정합 방법 28
• 3.1 영상정합 방법의 구성 28
• 3.2 웨이블렛 변환 단계 29
• 3.3 변환 영상 정규화 단계 30
• 3.4 검사 영역 분할 단계 30
• 3.5 영상정합 단계 31
• Ⅳ. 실험 및 결과 33
• 4.1 실험 환경 33
• 4.2 저장 용량 비교 36
• 4.3 연산속도 비교 37
• 4.4 정확도 비교 38
• 4.5 비교 및 분석 40
• Ⅴ. 결 론 41
• 참고문헌 43