1 Taguchi, "품질공학 사례집 일본편․일반, 품질공학강좌 5" 한국공업표준협회 1989
2 장성진, "엄격한 고장판정기준을 적용한 단계별 열화시험 설계" 아주대학교 2004
3 이승민, "신뢰성 향상을 위한 수명과 열화데이터의분석방법의 개발" 한국과학기술원 1995
4 Fujita Shigeru(藤田 茂), "바이패스 콘덴서나 휴대전화 등에 보급되는 리튬이온전지" 2000
5 이종석, "리튬이온전지의 특허동향" EP&C 전자부품뉴스 2004
6 Tseng, S, T., "UsingDegradation Data to improve Fluorescent LampReliability" 27 (27): 363-369, 1995
7 Chiao, C., "Robust Reliabilityfor Light-Emitting Diodes using DegradationMeasurement" 12 : 89-94, 1996
8 RIC 04-05, "RIC 04-05, 열화 데이터 분석 Guideline"
9 RIC 03-05, "RIC 03-05, 신뢰성시험 데이터 분석 Guideline"
10 Weibull++7, "Life Data Analysis Reference"
1 Taguchi, "품질공학 사례집 일본편․일반, 품질공학강좌 5" 한국공업표준협회 1989
2 장성진, "엄격한 고장판정기준을 적용한 단계별 열화시험 설계" 아주대학교 2004
3 이승민, "신뢰성 향상을 위한 수명과 열화데이터의분석방법의 개발" 한국과학기술원 1995
4 Fujita Shigeru(藤田 茂), "바이패스 콘덴서나 휴대전화 등에 보급되는 리튬이온전지" 2000
5 이종석, "리튬이온전지의 특허동향" EP&C 전자부품뉴스 2004
6 Tseng, S, T., "UsingDegradation Data to improve Fluorescent LampReliability" 27 (27): 363-369, 1995
7 Chiao, C., "Robust Reliabilityfor Light-Emitting Diodes using DegradationMeasurement" 12 : 89-94, 1996
8 RIC 04-05, "RIC 04-05, 열화 데이터 분석 Guideline"
9 RIC 03-05, "RIC 03-05, 신뢰성시험 데이터 분석 Guideline"
10 Weibull++7, "Life Data Analysis Reference"
11 Viviane R. B., "Comparison of Methods to Estimate theTime-to-Failure Distribution in DegradationTests" 20 : 363-373, 2004
12 "BAYSUN"
13 W. Q. Meeker, "AcceleratedDegradation Tests: Modeling and Analysis" 40 (40): 89-99, 1998
14 Wasserman, G, S., "A Modeling Framework forRelating Robustness with Reliability" 8 (8): 681-692, 1996