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      접합 온도를 고려한 TO-CAN 레이저 다이오드의 Screening 조건 연구 = Study on junction temperature characteristics of TO-CAN laser diode for optimized screening tests

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      https://www.riss.kr/link?id=A103689823

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      다국어 초록 (Multilingual Abstract)

      To extract exact screening conditions of TO-CAN laser diode, junction temperature during screening was investigated. Temperature increase due to thermal resistance was measured and compared with theoretical calculation. Injection current dependence of injection temperature was derived with good agreement with experimental data and used to obtain accurate screening conditions.
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      To extract exact screening conditions of TO-CAN laser diode, junction temperature during screening was investigated. Temperature increase due to thermal resistance was measured and compared with theoretical calculation. Injection current dependence of...

      To extract exact screening conditions of TO-CAN laser diode, junction temperature during screening was investigated. Temperature increase due to thermal resistance was measured and compared with theoretical calculation. Injection current dependence of injection temperature was derived with good agreement with experimental data and used to obtain accurate screening conditions.

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      국문 초록 (Abstract)

      레이저 다이오드의 동작 수명을 예측하고 안정화된 성능과 신뢰도를 만족하기 위해서는 검증된 시스템으로 광부품의 신뢰성 테스트를 수행하는 것이 중요하다. 본 연구에서는 온도와 인가 전류에 따른 접합 온도(junction temperature) 특성을 관찰하여 실제 주위 온도 ( $T_{A}$)와 광소자의 온도( $T_{j}$) 차이를 이론 및 실험 적으로 도출하였고, 이를 토대로 정밀한 burn-in 테스트를 위한 screening 조건을 설정해 제시하였다.하였다.
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      레이저 다이오드의 동작 수명을 예측하고 안정화된 성능과 신뢰도를 만족하기 위해서는 검증된 시스템으로 광부품의 신뢰성 테스트를 수행하는 것이 중요하다. 본 연구에서는 온도와 인가 ...

      레이저 다이오드의 동작 수명을 예측하고 안정화된 성능과 신뢰도를 만족하기 위해서는 검증된 시스템으로 광부품의 신뢰성 테스트를 수행하는 것이 중요하다. 본 연구에서는 온도와 인가 전류에 따른 접합 온도(junction temperature) 특성을 관찰하여 실제 주위 온도 ( $T_{A}$)와 광소자의 온도( $T_{j}$) 차이를 이론 및 실험 적으로 도출하였고, 이를 토대로 정밀한 burn-in 테스트를 위한 screening 조건을 설정해 제시하였다.하였다.

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      2014-01-08 학술지명변경 외국어명 : 미등록 -> Journal of the Korean Institute of Illuminating and Electrical Installation Engineers KCI등재
      2011-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
      2009-01-01 평가 등재학술지 유지 (등재유지) KCI등재
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      학술지 인용정보

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      기준연도 WOS-KCI 통합IF(2년) KCIF(2년) KCIF(3년)
      2016 0.17 0.17 0.19
      KCIF(4년) KCIF(5년) 중심성지수(3년) 즉시성지수
      0.18 0.17 0.342 0.05
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