Microcode 방식의 메모리 BIST 회로 설계 = A Memory BIST Based on Microcode Technique

국문 초록 (Abstract)

본 논문에서는 개선된 메모리 테스트 알고리즘을 칩 내에서 수행하는 BI5T 회로를 설계하였다. 기존의 March 알고리즘으로는 CMOS ADOF를 점검할 수 없다. 주소생성 방법과 데이터 생성 방법을 달리해도 기존의 고전적인 고장을 점검할 수 있다는 자유도를 이용 CMOS ADOF를 점검할 수 있는 수정된 March 알고리즘이 제안되었다. 본 논문에서는 수정된 March 알고리즘을 instruction set으로 구성하고, NPSF 검출을 위한 Cellular Automata 주소 생성기를 사용하여 테스트 알고리즘 추가 및 수정 시 확장성과 유연성이 높고 추가 면적이 적은 microcode-based BIST 회로를 구현하였다.

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

A new microcode-based BIST(Biult-In Self Test) circuitry for embedded memory components is proposed in this paper. The memory BIST implements march algorithms which are slightly modified by adopting DOF(Degree of Freedom) concept to detect ADOFS(Address Decoder Open Faults) on top of conventional stuck faults. Furthermore it is shown that the march BIST modified can capture a few NPSFS(Neighborhood Pattern Sensitive Faults) coupled with the Cellular Automata address generator and patterns. The microcode-based memory BIST proposed lends itself to performing different combinations of march and retention tests with less microcode storage than the other approaches.

목차 (Table of Contents)

• 1.서론
• 2.메모리 고장 모델
• 3.ADOF와 수정된 10N March 알고리즘
• 4.주소 생성을 위한 완전 CA
• 5.Microcode-Based BIST 제어기
• 6.실험결과
• 7.결론