본 논문에서는 고장 시뮬레이션 시간 및 기억 용량면에서 효율적인 고장 시뮬레이션 알고리즘을 제시하였다. 제안된 알고리즘은 Fanout Stem에 대한 Reconvergent 여부 및 임계경로에 포함되는 지...
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1992
Korean
004
학술저널
739-742(4쪽)
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본 논문에서는 고장 시뮬레이션 시간 및 기억 용량면에서 효율적인 고장 시뮬레이션 알고리즘을 제시하였다. 제안된 알고리즘은 Fanout Stem에 대한 Reconvergent 여부 및 임계경로에 포함되는 지...
본 논문에서는 고장 시뮬레이션 시간 및 기억 용량면에서 효율적인 고장 시뮬레이션 알고리즘을 제시하였다. 제안된 알고리즘은 Fanout Stem에 대한 Reconvergent 여부 및 임계경로에 포함되는 지의 여부를 알기 위해 전처리 단계에서 Fanout Stem의 고장들을 PVL 알고리즘의 처리 방법을 이용하여 Stem 에서의 고장이 입력 테스트 패턴에 의해 검출 가능한 지를 쉽게 알 수 있게 되고, 주출력과 임계경로상에 위치하는 Fanout Stem 들로부터 역추적을 수행하게 되면 신속히 임계경로를 결정할 수 있어서 고장 시뮬레이터의 속도를 매우 향상시킬 수 있다. 또한 이 알고리즘을 PCPT 고장 시뮬레이터로 구현하여 조합논리회로의 Benchmark 회로에 대하여 시뮬레이션 함으로써 성능이 우수함을 입증하였다.
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