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      원자 현미경에서 마찰력 측정을 위한 새로운 실험 기법 = A New Experimental Technique for Calibration of Frictional Force in Atomic Force Microscopy

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      https://www.riss.kr/link?id=A104477703

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      1 "Youngs Modulus Measurements of Silicon Nanastructures Using a Scanning Probe System: s Non-Destructive Evaluation Approach" 12 : 1028-1032, 2003

      2 "Simultaneous Measurement of Lateral and Normal Forces with an Optical-Beam-Deflection Atomic Force Microscopy: the NaCl (011)Surface" 57 : 2089-2091, 1990

      3 "Quasi-Static Bending Test of Nano-Scale SiO2 Wire at Intermediate Temperatures Using AFM-Based Technique" 104 : 78-85, 2003

      4 "Quantitative Analysis of Lateral Force Microscopy Experiments, Rev. Sci. Instrum" 67 : 2560, 22-2567, 29, 19961995

      5 "Mechanics of Materials, 2nd ed.," 163-165, 1992

      6 "Mechanical Property Measurements of Nanoscale Structures Using an Atomic Force Microscope" 91 : 111-118, 2002

      7 "Mechanical Characterization of Sub-Micrometer Thick DLC Films by AFM Tensile Testing for Surface Modification in MEMS" 431-434, 2002

      8 "Lateral and Longitudinal Spring Constants of Atomic Force Microscopy Cantilever" 65 : 2527-2531, 1994

      9 "Handbook of Micro/Nano Tribology" 22-29, 1999

      10 "Evaluation of Size Effect on Mechanical Properties of Single Crystal Silicon by Nanoscale Bending Test Using AFM" 9 : 450-459, 2000

      1 "Youngs Modulus Measurements of Silicon Nanastructures Using a Scanning Probe System: s Non-Destructive Evaluation Approach" 12 : 1028-1032, 2003

      2 "Simultaneous Measurement of Lateral and Normal Forces with an Optical-Beam-Deflection Atomic Force Microscopy: the NaCl (011)Surface" 57 : 2089-2091, 1990

      3 "Quasi-Static Bending Test of Nano-Scale SiO2 Wire at Intermediate Temperatures Using AFM-Based Technique" 104 : 78-85, 2003

      4 "Quantitative Analysis of Lateral Force Microscopy Experiments, Rev. Sci. Instrum" 67 : 2560, 22-2567, 29, 19961995

      5 "Mechanics of Materials, 2nd ed.," 163-165, 1992

      6 "Mechanical Property Measurements of Nanoscale Structures Using an Atomic Force Microscope" 91 : 111-118, 2002

      7 "Mechanical Characterization of Sub-Micrometer Thick DLC Films by AFM Tensile Testing for Surface Modification in MEMS" 431-434, 2002

      8 "Lateral and Longitudinal Spring Constants of Atomic Force Microscopy Cantilever" 65 : 2527-2531, 1994

      9 "Handbook of Micro/Nano Tribology" 22-29, 1999

      10 "Evaluation of Size Effect on Mechanical Properties of Single Crystal Silicon by Nanoscale Bending Test Using AFM" 9 : 450-459, 2000

      11 "Development of AFM-Based Techniques to Measure Mechanical Properties of Nanoscale Structures" 101 : 338-351, 2002

      12 "Calibration of Frictional Forces in Atomic Force Microscopy" 67 : 3298-3306, 1996

      13 "Atomic-Scale Friction of a Tungsten Tip on a Graphite Surface" 59 : 1942-1945, 1987

      14 "Atomic-Scale Friction Measurements Using Friction Force Microscopy: Part I - General Principles^New Measurement Techniques" 116 : 378-388, 1994

      15 "Atomic Force Microscope" 56 : 930-933, 1986

      16 "An Introduction to the Mechanics of Solids, 2nd ed." 393-395, 1978

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      2016 0.27 0.27 0.25
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      0.24 0.23 0.506 0.06
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