시험패턴 생성을 위한 고울이동 알고리즘 = Goal Reduction Algorithm for Test Generation

국문 초록 (Abstract)

조합회로에서 고착결함의 시험패턴을 구하는 종래의 알고리즘들은 결함의 효과를 전파시킬 수 없는 경우와 전파시키지 않아도 시험패턴을 구할 수 있는 경우를 고려하지 않고 결함의 효과를 전파시킴으로써 시험패턴을 효율적으로 구하지 못하는 문제점을 가지고 있다. 본 논문에서 제시하는 15-V알고리즘은 이와 같은 문제점을 보완하였다. 15-V알고리즘을 C언어로 구현하여 실행시킨 결과 시험패턴을 구하기 어려운 ECAT(error correction and translation)회로의 경우에 PODEM보다 효율적으로 시험패턴을 구하고 일반적인 회로에 대하여는 PODEM과 비슷한 결과를 보였다.

목차 (Table of Contents)

• 요약
• Ⅰ. 서론
• Ⅱ. 본론
• Ⅲ. 결과와 분석
• Ⅳ. 결론
• 참고문헌