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IEC 61850 기반 디지털변전소 현장정보처리장치 시험 방법에 관한 연구 = A Study on the Test Method of Local Information Processing Device in Digital Substation Based on IEC 61850
한글로보기https://www.riss.kr/link?id=A107096796
-
저자
김남대 ; 김우중 ; 이남호 ; 김석곤 ; 장병태 ; Kim, Nam-Dae ; Kim, Woo-Jung ; Lee, Nam-Ho ; Kim, Seok-Kon ; Jang, Byung-Tae
- 발행기관
- 학술지명
- 권호사항
-
발행연도
2020
-
작성언어
Korean
- 주제어
-
자료형태
학술저널
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수록면
253-257(5쪽)
- DOI식별코드
- 제공처
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부가정보
다국어 초록 (Multilingual Abstract)
The local information processing devices are devices that process information by converting voltage, current, and digital electric signals from legacy-type power facility into IEC 61850 based data. It acquires and processes the operation information of legacy-type power facility, performs control of power facility, and interlock function using internal logic. In particular, the time to convert data to process input and output information for a device is important because a number of protection relay input and output signals are handled by only one device. This paper introduces test methods and cases for measuring IEC 61850 communication function and input/output data conversion time of local information processing device.
The local information processing devices are devices that process information by converting voltage, current, and digital electric signals from legacy-type power facility into IEC 61850 based data. It acquires and processes the operation information of legacy-type power facility, performs control of power facility, and interlock function using internal logic. In particular, the time to convert data to process input and output information for a device is important because a number of protection relay input and output signals are handled by only one device. This paper introduces test methods and cases for measuring IEC 61850 communication function and input/output data conversion time of local information processing device.
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