An Automatic Test Pattern Generation Algorithm Using Maximal Supergates = 맥시말 수퍼게이트를 이용한 자동 테스트 생성 알고리즘

국문 초록 (Abstract)

본 논문에서는 맥시말 수퍼게이트가 자동 테스트 패턴 생성 알고리즘에 미치는 영향에 관하여 기술하였다. 맥시말 수퍼게이트는 게이트 레벨 디지탈 회로의 구조에 관한 정보를 담고 있다. 이러한 회로 구조가 자동 테스트 생성 알고리즘에 적용되었을 때, 그 효율을 얼마나 높일 수 있는지 조사하였다. 맥시말 수퍼게이트를 이용하면 그 출력점에서 결함의 전송을 중지시킬 수 있어서 자동 테스트 패턴 생성의 효율을 높일 수 있다. 실험 결과, ISCAS 표준 회로들에 대해서는 약 10퍼센트까지의 효율 증가를 나타냈으며, 또한 종래의 알고리즘으로 테스트 패턴 생성이 불가능하던 결함의 일부에 대해서도 테스트 패턴을 생성할 수 있었다.

다국어 초록 (Multilingual Abstract)

The impacts of maximal supergates on automatic test pattern generation of gate level combinational circuits have been investigated. The concept of maximal supergates can be regarded as a structural information of digital circuits. This paper focuses on the use of these structural information for test generation problem. Maximal supergates prevent us from repeating the same tasks which are useless during test generation by stopping fault propagation at the maximal supergate outputs. Stopping fault propagation using maximal supergates saves test generation time. Further, it increases the chance to detect more faults which cannot be detected without maximal supergates. Experimental results on ISCAS benchmark circuits are shown to verify the advantages.