Sn-3.0Ag-0.5Cu 무연솔더에서 Ag 함량의 감소는 기계적 충격 신뢰성 향상에 도움이 되는 반면 솔더링성을 저하시키는 것으로 알려져 있다. 본 연구에서는 저 Ag함유 무연솔더의 솔더링성 향상을 ...

http://chineseinput.net/에서 pinyin(병음)방식으로 중국어를 변환할 수 있습니다.
변환된 중국어를 복사하여 사용하시면 됩니다.
https://www.riss.kr/link?id=A101205172
장재원 (한국생산기술연구원 용접접합기술센터/마이크로조이닝센터) ; 유아미 (한국생산기술연구원) ; 이종현 (서울과학기술대학교) ; 이창우 (한국생산기술연구원(인천)) ; 김준기 (한국생산기술연구원) ; Jang, Jae-Won ; Yu, A-Mi ; Lee, Jong-Hyun ; Lee, Chang-Woo ; Kim, Jun-Ki
2013
Korean
KCI등재후보
학술저널
53-57(5쪽)
1
0
상세조회0
다운로드Sn-3.0Ag-0.5Cu 무연솔더에서 Ag 함량의 감소는 기계적 충격 신뢰성 향상에 도움이 되는 반면 솔더링성을 저하시키는 것으로 알려져 있다. 본 연구에서는 저 Ag함유 무연솔더의 솔더링성 향상을 ...
Sn-3.0Ag-0.5Cu 무연솔더에서 Ag 함량의 감소는 기계적 충격 신뢰성 향상에 도움이 되는 반면 솔더링성을 저하시키는 것으로 알려져 있다. 본 연구에서는 저 Ag함유 무연솔더의 솔더링성 향상을 위해 In을 첨가한 Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 4원계 조성과 여기에 미량의 Mn 및 Pd을 첨가한 무연솔더 조성에 대하여 솔더 젖음성을 평가하고, 보드 레벨 BGA 패키지의 열싸이클링 및 기계적 충격 신뢰성을 평가하였다. Sn-1.2Ag-0.7Cu 조성에 0.4 wt% In을 첨가한 합금의 젖음성은 Sn-3.0Ag-0.5Cu에 근접한 수준으로 향상되었으나, 패키지의 열싸이클링 신뢰성은 Sn-3.0Ag-0.5Cu에 미치지 못하는 것으로 나타났다. Sn-1.2Ag-0.7Cu-0.4In 조성에 0.03 wt% Pd의 첨가는 솔더 젖음성 및 패키지 신뢰성을 저하시킨 반면에 0.1 wt% Mn을 첨가한 합금은 특히 기계적 충격 신뢰성이 Sn-3.0Ag-0.5Cu는 물론 Sn-1.0Ag-0.5Cu보다도 우수한 수준으로 향상되었는데, 이는 Mn 첨가가 합금의 모듈러스를 감소시킨 데에 기인하는 것으로 생각된다.
참고문헌 (Reference)
1 유아미, "플럭스 활성도 및 In 첨가에 따른 Sn-0.3Ag-0.7Cu 솔더 조성의 젖음 특성 변화" 한국마이크로전자및패키징학회 15 (15): 51-57, 2008
2 김현호, "The Effects of UBM and SnAgCu Solder on Drop Impact Reliability of Wafer Level Package" 한국마이크로전자및패키징학회 17 (17): 65-69, 2010
3 "Temperature Cycling, JEDEC Standard JESD22-A104D"
4 T. Takemoto, "Recent Progress of Lead-Free in Electronic Packaging" 48 : 372-, 2005
5 이종현, "Reaction Properties and Interfacial Intermetallics for Sn-xAg-0.5Cu Solders as a Function of Ag Content" 대한금속·재료학회 14 (14): 649-654, 2008
6 J. H. Lee, "Quaternary Pb-free Solder Composition Incorporating Sn-Ag-Cu-In"
7 C. M. L. Wu, "Properties of Lead-Free Solder Alloys with Rare Earth Element Additions" 44 (44): 1-, 2004
8 I. Ohnuma, "Phase Equilibria and the Related Properties of Sn-Ag-Cu Based Pb-free Solder Alloys" 29 (29): 1137-, 2000
9 G. Iyer, "Pb-free Solder: SAC105 vs SAC305 Drop-Test Reliability Data Comparison" 2007
10 T. Takemoto, "Lead-Free Solder and Micro-Joining" 35 (35): 320-, 1996
1 유아미, "플럭스 활성도 및 In 첨가에 따른 Sn-0.3Ag-0.7Cu 솔더 조성의 젖음 특성 변화" 한국마이크로전자및패키징학회 15 (15): 51-57, 2008
2 김현호, "The Effects of UBM and SnAgCu Solder on Drop Impact Reliability of Wafer Level Package" 한국마이크로전자및패키징학회 17 (17): 65-69, 2010
3 "Temperature Cycling, JEDEC Standard JESD22-A104D"
4 T. Takemoto, "Recent Progress of Lead-Free in Electronic Packaging" 48 : 372-, 2005
5 이종현, "Reaction Properties and Interfacial Intermetallics for Sn-xAg-0.5Cu Solders as a Function of Ag Content" 대한금속·재료학회 14 (14): 649-654, 2008
6 J. H. Lee, "Quaternary Pb-free Solder Composition Incorporating Sn-Ag-Cu-In"
7 C. M. L. Wu, "Properties of Lead-Free Solder Alloys with Rare Earth Element Additions" 44 (44): 1-, 2004
8 I. Ohnuma, "Phase Equilibria and the Related Properties of Sn-Ag-Cu Based Pb-free Solder Alloys" 29 (29): 1137-, 2000
9 G. Iyer, "Pb-free Solder: SAC105 vs SAC305 Drop-Test Reliability Data Comparison" 2007
10 T. Takemoto, "Lead-Free Solder and Micro-Joining" 35 (35): 320-, 1996
11 H. J. Albrecht, "Interface Reactions in Microelectronic Solder Joints and Associated Intermetallic Compounds: An Investigation of Their Mechanical Properties Using Nanoindentation" 2003
12 S. Fenglian, "Improving the Solderability and Electromigration Behavior of Low-Ag SnAgCu Soldering" 2011
13 M. Amagai, "High Solder Joint Reliability with Lead Free Solders" 2003
14 P. M. Hall, "Forces, Moments, and Displacements during Thermal Chamber Cycling of Leadless Ceramic Chip Carriers Soldered to Printed Boards”" 7 (7): 314-, 1984
15 N. Sobczak, "Factors Affecting Wettability and Bond Strength of Solder Joint Couples" 79 (79): 1755-, 2007
16 K. W. Moon, "Experimental and Thermodynamic Assessment of Sn-Ag-Cu Solder Alloys" 29 : 1122-, 2000
17 S. Terashima, "Effect of Silver Content on Thermal Fatigue Life of Sn-xAg-0.5Cu Flip-Chip Interconnects" 32 (32): 1527-, 2003
18 S. Terashima, "Effect of Silver Content on Thermal Fatigue Life of Sn-xAg-0.5Cu Flip-Chip Interconnects" 32 (32): 1527-, 2003
19 M. Alajoki, "Drop Test Reliability of Wafer Level Chip Scale Packages" 2005
20 E. H. Wong, "Drop Impact Test-Mechanics & Physics of Failure" 2002
21 P. M. Hall, "Creep and Stress Relaxation in Solder Joints of Surface Mounted Chip Carriers" 12 (12): 556-, 1987
22 Z. W. Zhong, "Characterization of SnAgCu and SnPb Solder Joints on Low-Temperature Co-Fired Ceramic Substrate" 19 (19): 18-, 2007
23 "Board Level Drop Test Method of Components for Handheld Electronic Products, JEDEC Standard JESD22-B111"
24 J. S. Jeong, "An Experimental Study on the Failure Characteristics of Sn-xAg-Cu Lead Free Solder" 18 (18): 449-, 2009
25 A. Shed, "Accumulated Creep Strain and Energy Density Based Thermal Fatigue Life Prediction Models for SnAgCu Solder Joint" 2004
26 강태민, "A Study on the Correlation Between Board Level Drop Test Experiment and Simulation" 한국마이크로전자및패키징학회 18 (18): 35-41, 2011
27 "14. JIS Z 3198-4, “Test Methods for Lead-Free Solders - Part 4: Methods for Solderbility Test by a Wetting Balance Method and a Contact Angle Method"
3D IC 열관리를 위한 TSV Liquid Cooling System
비선형모델링을 통한 온습도 바이어스 시험 중의 다층 세라믹축전기 수명 예측
학술지 이력
| 연월일 | 이력구분 | 이력상세 | 등재구분 |
|---|---|---|---|
| 2022 | 평가예정 | 계속평가 신청대상 (계속평가) | |
| 2021-12-01 | 평가 | 등재후보로 하락 (재인증) | ![]() |
| 2018-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | ![]() |
| 2015-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | ![]() |
| 2011-06-28 | 학술지명변경 | 한글명 : 마이크전자 및 패키징학회지 -> 마이크로전자 및 패키징학회지외국어명 : The Microelectronics and Packaging Society -> Jornal of the Microelectronics and Packaging Society | ![]() |
| 2011-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | ![]() |
| 2009-01-01 | 평가 | 등재 1차 FAIL (등재유지) | ![]() |
| 2007-01-01 | 평가 | 등재학술지 유지 (등재유지) | ![]() |
| 2004-01-01 | 평가 | 등재학술지 선정 (등재후보2차) | ![]() |
| 2003-01-01 | 평가 | 등재후보 1차 PASS (등재후보1차) | ![]() |
| 2001-07-01 | 평가 | 등재후보학술지 선정 (신규평가) | ![]() |
학술지 인용정보
| 기준연도 | WOS-KCI 통합IF(2년) | KCIF(2년) | KCIF(3년) |
|---|---|---|---|
| 2016 | 0.48 | 0.48 | 0.43 |
| KCIF(4년) | KCIF(5년) | 중심성지수(3년) | 즉시성지수 |
| 0.39 | 0.35 | 0.299 | 0.35 |