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Single-Event Upset and Snapback in Silicon-on-Insulator Devices and Integrated Circuits
Dodd, P. E. IEEE; 1999 2000 p.2165-2174
Schwank, J. R. IEEE; 1999 2000 p.2175-2182
Worst-Case Bias During Total Dose Irradiation of SOI Transisitors
Ferlet-Cavrois, V. IEEE; 1999 2000 p.2183-2188
Hole and Electron Trapping in Ion Implanted Thermal Oxides and SIMOX
Mrstik, B. J. IEEE; 1999 2000 p.2189-2195
Laser Probing of Bipolar Amplification in 0.25-mum MOS/SOI Transistors
Musseau, O. IEEE; 1999 2000 p.2196-2203
Total Dose Performance at 77K of a Radiation Hard 0.35 mum CMOS SOI Technology
Jenkins, W. C. IEEE; 1999 2000 p.2204-2207
Radiation Environment Measurements from CREAM and CREDO During the Approach to Solar Maximum
Dyer, C. S. IEEE; 1999 2000 p.2208-2217
Characterizing Solar Proton Energy Spectra for Radiation Effects Applications
Xapsos, M. A. IEEE; 1999 2000 p.2218-2223
The Relationship Between DSCS III Sunlit Surface Charging and Geomagnetic Activity Indices
Krause, L. H. IEEE; 1999 2000 p.2224-2230
Cheynet, P. IEEE; 1999 2000 p.2231-2236
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