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ア ァ カ サ ザ タ ダ ナ ハ バ パ マ ヤ ャ ラ ワ ヮ ン イ ィ キ ギ シ ジ チ ヂ ニ ヒ ビ ピ ミ リ ウ ゥ ク グ ス ズ ツ ヅ ッ ヌ フ ブ プ ム ユ ュ ル エ ェ ケ ゲ セ ゼ テ デ ヘ ベ ペ メ レ オ ォ コ ゴ ソ ゾ ト ド ノ ホ ボ ポ モ ヨ ョ ロ ヲ ―

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Α Β Γ Δ Ε Ζ Η Θ Ι Κ Λ Μ Ν Ξ Ο Π Ρ Σ Τ Υ Φ Χ Ψ Ω α β γ δ ε ζ η θ ι κ λ μ ν ξ ο π ρ σ τ υ φ χ ψ ω
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      메모리 모듈 테스터의 PC 접속을 위한 A/D,D/A 변환보드 개발 = The Development of the A/D and D/A Converter Board for PC Connection of Memory Module Tester

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      In this paper, The DC parameter test system interfacing to PC for the semicomductor test equipment is consisted of CPLD(Complex Programmable Logic Device) Part, ADC (Analogue to Digital Converter), DAC(Digital to Analotue Converter), voltage/current source, variable resistor and measurement part. The CPLD part is designed by VHDL (VHSIC Hardware Description Language), which it generates the control signal and converts the serial data to parallel data. ADC part converts analpgue data to 16bits digital data. DAC part converts the 12bits digital test voltage to analogue voltage. The proposed DC parameter test system has two test channels and it operates VFCS (VOLtage Force Current Sensing) mode and CFVS (Current Force Current Sensing )Mode.
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      In this paper, The DC parameter test system interfacing to PC for the semicomductor test equipment is consisted of CPLD(Complex Programmable Logic Device) Part, ADC (Analogue to Digital Converter), DAC(Digital to Analotue Converter), voltage/current s...

      In this paper, The DC parameter test system interfacing to PC for the semicomductor test equipment is consisted of CPLD(Complex Programmable Logic Device) Part, ADC (Analogue to Digital Converter), DAC(Digital to Analotue Converter), voltage/current source, variable resistor and measurement part. The CPLD part is designed by VHDL (VHSIC Hardware Description Language), which it generates the control signal and converts the serial data to parallel data. ADC part converts analpgue data to 16bits digital data. DAC part converts the 12bits digital test voltage to analogue voltage. The proposed DC parameter test system has two test channels and it operates VFCS (VOLtage Force Current Sensing) mode and CFVS (Current Force Current Sensing )Mode.

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