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Ito, T.; Kobayashi, K.; Czarnetzki, U.; Hamaguchi, S. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.062001
Tian, W.; Zhu, X.-M.; Pu, Y.-K. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.062002
Force calibration in lateral force microscopy: a review of the experimental methods
Munz, M. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.063001
Room-temperature magnetoelectric coupling in Bi~4(Ti~1Fe~2)O~1~2~-~ ~d~e~l~t~a~ system
Chen, X.Q.; Yang, F.J.; Cao, W.Q.; Wang, D.Y.; Chen, K. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.065001
Mantovan, R.; Lamperti, A.; Georgieva, M.; Tallarida, G.; Fanciulli, M. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.065002
Trusov, K.K. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.065201
Highly sensitive measurements of the energy transferred during plasma sputter deposition of metals
Bedra, L.; Thomann, A.L.; Semmar, N.; Dussart, R.; Mathias, J. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.065202
Yasuhara, S.; Sasaki, T.; Shimayama, T.; Tajima, K.; Yano, H.; Kadomura, S.; Yoshimaru, M.; Matsunaga, N.; Samukawa, S. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.065203
Bo, Z.; Chen, J.H. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.065204
Hoskinson, A.R.; Hershkowitz, N. IOP PUBLISHING LTD 2010 p.065205
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